[發明專利]高低溫測試方法、系統、處理端及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010586931.X
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111722967A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 馬孔偉;付暉;王德信
• 申請（專利權）人: 青島歌爾智能傳感器有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 關向蘭

本發明公開了一種高低溫測試方法、系統、處理端及計算機可讀存儲介質，所述高低溫測試方法包括：將系統級封裝SIP模組的配置信息發送至所述SIP模組，以使得所述SIP模組基于所述配置信息進行工作，并啟動自檢程序在高低溫箱中進行自檢；接收所述SIP模組返回的高低溫測試的自檢結果；根據所述自檢結果，判斷所述SIP模組是否處于正常工作狀態。本發明能夠提高SIP模組的高低溫測試的效率。

技術領域

本發明涉及性能測試領域，尤其涉及一種高低溫測試方法、系統、處理端及計算機可讀存儲介質。

背景技術

隨著電子技術和集成電路技術的發展，SIP(System In Package，系統級封裝)模組越來越普遍。由于SIP模組尺寸小，molding(塑封)后的散熱能力差，因此，對SIP模組進行高低溫測試是必要的。

目前，對于SIP模組進行高低溫測試的方法是：先將上電后的SIP模組放入高低溫箱，然后間隔一定時間取出SIP模組并人工測試各項功能，若功能正常則繼續置于高低溫箱中完成測試。現有的測試過程中，需頻繁打開高低溫箱，然后人工逐項測試功能，測試效率低、時間長、成本高。因此，如何提高SIP模組高低溫測試的效率是目前亟需解決的問題。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種高低溫測試方法、系統、處理端及計算機可讀存儲介質，旨在提高SIP模組高低溫測試的效率。

為實現上述目的，本發明提供一種高低溫測試方法，所述高低溫測試方法包括：

將系統級封裝SIP模組的配置信息發送至所述SIP模組，以使得所述SIP模組基于所述配置信息進行工作，并啟動自檢程序在高低溫箱中進行自檢；

接收所述SIP模組返回的高低溫測試的自檢結果；

根據所述自檢結果，判斷所述SIP模組是否處于正常工作狀態。

可選地，所述根據所述自檢結果，判斷所述SIP模組是否處于正常工作狀態的步驟，包括：

根據所述自檢結果，得到所述SIP模組各個器件的工作狀態；

若所述工作狀態中至少存在一個為異常工作狀態，則判定所述SIP模組處于異常工作狀態；

若所述工作狀態全部為正常工作狀態，則判定所述SIP模組處于正常工作狀態。

可選地，所述高低溫測試方法還包括：

若判定所述SIP模組的工作狀態為異常工作狀態，則啟動報警裝置進行報警。

可選地，所述高低溫測試方法還包括：

若判定所述SIP模組的工作狀態為異常工作狀態，則根據所述自檢結果，得到異常器件的名稱及異常發生時間；

將所述異常器件的名稱及異常發生時間進行顯示。

可選地，所述將系統級封裝SIP模組的配置信息發送至所述SIP模組，以使得所述SIP模組基于所述配置信息進行工作，并啟動自檢程序在高低溫箱中進行自檢的步驟之前，還包括：

在接收到SIP模組的配置信息設定請求時，根據所述配置信息設定請求顯示配置信息設定頁面，以供配置SIP模組的工作模式及工作時長；

在接收到基于所述配置信息設定頁面觸發的配置信息設定指令時，根據所述配置信息設定指令獲取配置的SIP模組的工作模式及其工作時長，根據所述配置的SIP模組的工作模式及其工作時長，生成所述SIP模組的配置信息。

可選地，所述接收所述SIP模組返回的高低溫測試的自檢結果的步驟包括：

通過控制多路選擇開關，建立與所述SIP模組的通信連接；