[發明專利]一種指紋識別方法及裝置在審
| 申請號: | 202010586734.8 | 申請日: | 2020-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN111753719A | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發明(設計)人: | 高名揚;王琦 | 申請(專利權)人: | 上海依圖網絡科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/52 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 王松懷 |
| 地址: | 200051 上海市徐匯*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 指紋識別 方法 裝置 | ||
1.一種指紋識別方法,其特征在于,包括:
識別獲得待匹配指紋圖像中的各待匹配指紋特征點,并分別從所述待匹配指紋圖像中獲得包含待匹配指紋特征點的待匹配子圖;
分別根據計算出的各待匹配子圖的子圖特征向量,匹配獲得子圖特征滿足相似度條件的子圖;
根據所述各待匹配子圖對應匹配獲得的滿足相似度條件的子圖,計算出所述子圖的仿射變換矩陣,并根據所述仿射變換矩陣,篩選出滿足匹配條件的子圖;
根據篩選出的各滿足匹配條件的子圖,確定所述待匹配指紋圖像的指紋匹配結果。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,若相似度條件為相似度最高時,則根據所述各待匹配子圖對應匹配獲得的滿足相似度條件的子圖,計算出所述子圖的仿射變換矩陣,具體包括:
隨機選取預設數個待匹配子圖和對應匹配獲得的相似度最高的子圖對,并分別計算獲得各候選的仿射變換矩陣;
分別針對各計算獲得的候選的仿射變換矩陣,根據任意一個候選的仿射變換矩陣,分別對所述各待匹配子圖進行仿射變換,確定所述各待匹配子圖對應的仿射變換后的子圖,若確定仿射變換后的子圖與對應匹配獲得的相似度最高的子圖之間的第一距離小于第一距離閾值,則確定對應的待匹配子圖與匹配獲得的相似度最高的子圖之間滿足匹配條件,以及確定滿足匹配條件的待匹配子圖的數量總和,以及對應的第一距離總和;
將所述各計算獲得的候選的仿射變換矩陣中匹配滿足匹配條件的待匹配子圖的數量總和最大,并對應的第一距離總和最小對應的候選的仿射變換矩陣,作為仿射變換矩陣。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,根據所述仿射變換矩陣,篩選出滿足匹配條件的子圖,具體包括:
根據所述仿射變換矩陣,分別對所述各待匹配子圖進行仿射變換,確定所述各待匹配子圖對應的仿射變換后的子圖;
若確定所述仿射變換后的子圖與對應獲得的相似度最高的子圖之間的第二距離小于預設第二距離閾值,則確定對應的待匹配子圖與匹配獲得的相似度最高的子圖滿足匹配條件,篩選出滿足匹配條件的子圖。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,分別根據計算出的各待匹配子圖的子圖特征向量,匹配獲得子圖特征滿足相似度條件的子圖,具體包括:
分別針對各待匹配子圖,根據任意一個待匹配子圖的識別獲得的子圖類別,查找到與所述子圖類別相同的子圖類,并根據計算出的待匹配子圖的子圖特征向量,分別與各子圖類的中心子圖特征向量進行比對,確定出滿足相似度條件的子圖類,并從所述滿足相似度條件的子圖類中,匹配獲得子圖特征滿足相似度條件的子圖。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,根據篩選出的各滿足匹配條件的子圖,確定所述待匹配指紋圖像的指紋匹配結果,具體包括:
分別根據篩選出的各滿足匹配條件的子圖,查找到與所述各滿足匹配條件的子圖關聯的指紋圖像;
分別針對查找到的各關聯的指紋圖像,計算任意一個指紋圖像中,滿足匹配條件的子圖的數目與所述任意一個指紋圖像的包含子圖的總數目之間的比值,并將所述比值,作為所述任意一個指紋圖像與所述待匹配指紋圖像的匹配得分;
根據確定出的各匹配得分,從所述查找到的各關聯的指紋圖像中確定出與所述待匹配指紋圖像最終匹配的指紋圖像。
6.一種指紋識別裝置,其特征在于,包括:
識別模塊,用于識別獲得待匹配指紋圖像中的各待匹配指紋特征點,并分別從所述待匹配指紋圖像中獲得包含待匹配指紋特征點的待匹配子圖;
匹配模塊,用于分別根據計算出的各待匹配子圖的子圖特征向量,匹配獲得子圖特征滿足相似度條件的子圖;
處理模塊,用于根據所述各待匹配子圖對應匹配獲得的滿足相似度條件的子圖,計算出所述子圖的仿射變換矩陣,并根據所述仿射變換矩陣,篩選出滿足匹配條件的子圖;
確定模塊,用于根據篩選出的各滿足匹配條件的子圖,確定所述待匹配指紋圖像的指紋匹配結果。
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