[發明專利]大張二極管電路及大張二極管測試方法

在審

• 申請號: 202010585257.3
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111856232A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 吳模信;李艷強
• 申請（專利權）人: 南昌歐菲顯示科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66;H01L33/48
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 汪飛亞

本申請提供一種大張二極管電路，包括：線路板；多個貼片線路，設于線路板上；貼片線路包括串聯線和多個二極管，串聯線串聯起多個二極管；測試線路，設于線路板上，包括一個陽極單元和多個陰極單元；陽極單元包括陽極接線片和陽極導線；陰極單元包括陰極接線片和陰極導線；陽極接線片和多個陰極接線片集中排列于線路板的邊緣。本申請相較于傳統測試方法，實現了同時測試多個二極管，提高了測試效率，避免了外部檢測單元直接接觸二極管，規避了二極管的損傷風險。本申請同時提供一種適用于大張二極管電路的大張二極管測試方法。

技術領域

本發明涉及發光二極管檢測技術領域，尤其涉及一種大張二極管電路及大張二極管測試方法。

背景技術

在發光二極管(LED，Light Emitting Diode)的生產加工流程中，需要測試發光二極管是否導通，以防止不良品流出。現有的測試方法為，將貼在線路板上的發光二極管逐個插針或壓接供電點亮發光二極管，以測試其導通性。

然而，在實現本申請的過程中，發明人發現現有技術中至少存在如下問題：大張的線路板上排布的發光二極管數量多，依次點亮測試效率低下，且測試治具直接接觸發光二極管，容易刮碰發光二極管，造成發光二極管損傷。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種大張二極管電路及大張二極管測試方法，以解決上述問題。

本發明實施例提供一種大張二極管電路，所述大張二極管電路包括：

線路板；

多個貼片線路，設于所述線路板上；

所述貼片線路包括串聯線和多個二極管，所述串聯線串聯起多個所述二極管，所述串聯線的兩端分別為正極端和負極端；

測試線路，設于所述線路板上；

所述測試線路包括一個陽極單元和多個陰極單元，所述陰極單元的數量與所述貼片線路的數量一致；

所述陽極單元包括陽極接線片和陽極導線，所述陽極接線片通過所述陽極導線分別電連接多個所述貼片線路的正極端；

所述陰極單元包括陰極接線片和陰極導線，每個所述陰極接線片通過所述陰極導線電連接一個所述貼片線路的負極端；

所述陽極接線片和多個所述陰極接線片集中排列于所述線路板的邊緣。

本發明實施例的大張二極管電路相較于傳統的二極管導通測試方法，通過測試線路電連接多個具有二極管的貼片線路，實現了同時測試多個二極管，提高了測試效率，外部檢測單元通過陽極接線片與陰極接線片向二極管供電，避免了外部檢測單元直接接觸二極管，規避了二極管的損傷風險。

在一些實施例中，所述陽極單元還包括陽極延長段，所述陽極導線通過所述陽極延長段電連接所述正極端；

所述陰極單元還包括陰極延長段，所述陰極導線通過所述陰極延長段電連接所述負極端。

通過陽極延長段和陰極延長段連接貼片線路的正極端和負極端，起到了間隔開測試線路與貼片線路的作用，避免了陽極導線及陰極導線與貼片線路之間相互干擾。

在一些實施例中，所述陽極導線與所述陰極導線的線寬大于或等于30μm。

避免陽極導線與陰極導線由于線寬過窄，在黃光工藝過程中受損，造成斷路等不良。

在一些實施例中，所述大張二極管電路還包括直流電源；

所述直流電源的正極電連接所述陽極接線片，所述直流電源的負極電連接多個所述陰極接線片。

將直流電源連接大張二極管電路后，即可通過貼片線路內二極管是否被點亮判斷該貼片線路內是否有二極管未導通。