[發明專利]介質濾波器及通信基站

在審

• 申請號: 202010582889.4
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111740193A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 吳亞暉;鐘志波
• 申請（專利權）人: 大富科技(安徽）股份有限公司
• 主分類號: H01P1/212
• 分類號: H01P1/212;H01P1/20;H01P1/208
• 代理公司: 深圳市睿智專利事務所 44209
• 代理人: 郭文姬

1.一種介質濾波器，包括由介電材料制成的本體和設置在該本體表面的至少一對介質諧振器，在一對介質諧振器的第一介質諧振器和第二介質諧振器之間設置有兩個耦合槽，其特征在于：所述第一介質諧振器和第二介質諧振器分別位于本體的上表面和下表面，兩個耦合槽分別位于本體的上表面和下表面，兩個耦合槽至少部分連通，第一介質諧振器和第二介質諧振器之間通過耦合槽實現容性耦合。

2.根據權利要求1所述的介質濾波器，其特征在于：第一耦合槽包括連通部分和向第二介質諧振器延伸的延伸部分，第二耦合槽包括連通部分和向第一介質諧振器延伸的延伸部分。

3.根據權利要求2所述的介質濾波器，其特征在于：第一耦合槽的延伸部分向第二介質諧振器的正上方延伸，第二耦合槽的延伸部分向第一介質諧振器的正下方延伸。

4.根據權利要求2所述的介質濾波器，其特征在于：所述第一耦合槽的連通部分位于在本體上表面的中心，所述第二耦合槽的連通部分位于在本體下表面的中心。

5.根據權利要求2所述的介質濾波器，其特征在于：所述第一耦合槽的延伸部分和第二耦合槽的延伸部分均為弧形。

6.根據權利要求1所述的介質濾波器，其特征在于：在本體上與介質諧振器相對的表面，與介質諧振器同軸設置有用于輔助微調介質諧振器頻率的調試盲孔。

7.根據權利要求5所述的介質濾波器，其特征在于：所述調試盲孔為圓形、多邊形或者橢圓形，所述調試盲孔表面部分未被導電層覆蓋。

8.一種介質濾波器，包括由介電材料制成的本體和設置在本體上的介質諧振器，其特征在于：所述介質諧振器設有四個，分別位于四邊形的四個角，其中相鄰一對介質諧振器中間設有容性耦合結構；該對介質諧振器的第一介質諧振器和第二介質諧振器分別位于本體的上表面和下表面，兩個耦合槽分別位于本體的上表面和本體的下表面，兩個耦合槽至少部分連通，第一介質諧振器和第二介質諧振器之間通過耦合槽實現容性耦合。

9.根據權利要求8所述的介質濾波器，其特征在于：所述第一耦合槽和第二耦合槽均包括連通部分和延伸部分，所述第一耦合槽和第二耦合槽的連通部分為圓柱形，延伸部分為弧形。

10.一種通信基站，其特征在于：包括如權利要求1至9任意一項所述的介質濾波器。