[發(fā)明專利]一種溫度變形同步測量的動態(tài)光學補償方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010582400.3
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111707382B
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發(fā)明（設計）人: 馮雪;岳孟坤;張金松;屈哲;唐云龍
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學
• 主分類號: G01J5/60
• 分類號: G01J5/60;G01J5/06;G01B11/16
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本公開涉及一種溫度變形同步測量的動態(tài)光學補償方法及裝置，其中，該方法包括：獲取多個不同功率藍色光照射下被測物體表面的第一圖像序列；根據(jù)所述第一圖像序列中各光學通道灰度值，得到各光學通道對應的補償系數(shù)；獲取加熱過程中所述被測物體表面的第二圖像及參考點的溫度；根據(jù)所述第二圖像中各光學通道灰度值及所述補償系數(shù)，得到補償后的各光學通道灰度值；根據(jù)所述補償后的各光學通道灰度值及所述參考點的溫度，得到所述被測物體表面的溫度場。通過本公開，對各光學通道進行動態(tài)光學補償，并利用補償后的各光學通道灰度值更加準確地求取被測物體表面的溫度場，從而實現(xiàn)溫度場和變形場的高精度同步在線測量。

技術領域

本公開涉及光學測量技術領域，尤其涉及一種溫度變形同步測量的動態(tài)光學補償方法、裝置及存儲介質(zhì)。

背景技術

航空航天、核能、地球物理等領域涉及高溫/超高溫環(huán)境，針對高溫環(huán)境下溫度場、變形場的同步測量，對于材料選擇、結(jié)構(gòu)設計、器件優(yōu)化等至關重要。

相關技術中，由于補光光源不純，濾波片與補光光源波長不匹配、濾波不徹底以及相機圖像傳感器的寬廣譜響應等因素導致輻射光、補光光源相互耦合，造成溫度場測量結(jié)果不準確，影響了溫度變形同步測量的精度；同時，相關技術中通過分析考核前后的狀態(tài)評估材料性能的方式，喪失了大量關鍵的過程信息，導致對材料演化機理方面的理解難以突破。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本公開提出了一種溫度變形同步測量的動態(tài)光學補償方法、裝置及存儲介質(zhì)。

根據(jù)本公開的一方面，提供了一種溫度變形同步測量的動態(tài)光學補償方法，包括：

獲取多個不同功率藍色光照射下被測物體表面的第一圖像序列；

根據(jù)所述第一圖像序列中各光學通道灰度值，得到各光學通道對應的補償系數(shù)；

獲取加熱過程中所述被測物體表面的第二圖像及參考點的溫度；

根據(jù)所述第二圖像中各光學通道灰度值及所述補償系數(shù)，得到補償后的各光學通道灰度值；

根據(jù)所述補償后的各光學通道灰度值及所述參考點的溫度，得到所述被測物體表面的溫度場。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述光學通道包括：紅光通道、綠光通道、藍光通道；

所述根據(jù)所述第一圖像序列中各光學通道灰度值，得到各光學通道對應的補償系數(shù)，包括：

根據(jù)所述第一圖像序列中藍光通道灰度值及藍光通道灰度值對應的紅光通道的平均灰度值，得到第一紅光通道補償系數(shù)；

和/或，

根據(jù)所述第一圖像序列中藍光通道灰度值及藍光通道灰度值對應的綠光通道的平均灰度值，得到第一綠光通道補償系數(shù)。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述第一圖像序列中藍光通道灰度值及藍光通道灰度值對應的紅光通道的平均灰度值，得到第一紅光通道補償系數(shù)，包括：

根據(jù)所述第一圖像序列中藍光通道的所有灰度值，得到藍光通道灰度值集合；

獲取所述藍光通道灰度值集合中各藍光通道灰度值對應的所有像素點的紅光通道灰度值；

根據(jù)每個藍光通道灰度值對應的所有像素點的紅光通道灰度值，得到該藍光通道灰度值對應的紅光通道的平均灰度值；

通過對所述藍光通道灰度值及所述紅光通道的平均灰度值進行擬合處理，得到第一紅光通道補償系數(shù)；

和/或，

所述根據(jù)所述第一圖像序列中藍光通道灰度值及藍光通道灰度值對應的綠光通道的平均灰度值，得到第一綠光通道補償系數(shù)，包括：

根據(jù)所述第一圖像序列中藍光通道的所有灰度值，得到藍光通道灰度值集合；