[發明專利]一種位置獲取方法、裝置及電子設備有效
| 申請號: | 202010582277.5 | 申請日: | 2020-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN111753938B | 公開(公告)日: | 2021-12-24 |
| 發明(設計)人: | 楊東清;陸柳慧;劉萬凱;羅圣諺;顏長建 | 申請(專利權)人: | 聯想(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G06K17/00 | 分類號: | G06K17/00;G01C21/16 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王嬌嬌 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 位置 獲取 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種位置獲取方法,包括:
獲得掃描數據、運動數據和圖像數據,所述掃描數據為射頻識別閱讀器RFID對所在環境中設置的電子標簽進行掃描所得到的數據,所述電子標簽對應有位置信息,所述運動數據為慣性測量單元IMU采集到的數據,所述圖像數據為圖像采集裝置采集到的數據,所述RFID、所述IMU和所述圖像采集裝置為設置在同一電子設備上的部件;
對所述圖像數據進行圖像識別,以得到識別結果,所述識別結果至少包含所述電子設備所在環境的光線參數;
在所述電子設備所在環境的光線參數大于或等于參數閾值的情況下,結合所述掃描數據和所述圖像數據,對所述運動數據進行處理,以得到所述電子設備的狀態數據;
在所述電子設備所在環境的光線參數小于所述參數閾值的情況下,結合所述掃描數據,對所述運動數據進行處理,以得到所述電子設備的狀態數據,所述狀態數據至少包含所述電子設備的位置數據;
其中,結合所述掃描數據和所述圖像數據,對所述運動數據進行處理,以得到所述電子設備的狀態數據,包括:
在所述圖像數據中包含所述電子標簽的圖像區域的情況下,獲得所述掃描數據中的第一位置信息;對所述圖像數據中包含同一對象的多幀圖像分別進行圖像特征點提取并對相鄰圖像的圖像特征點進行處理,以得到第二位置信息;對所述運動數據中的加速度進行積分處理,以得到第三位置信息;根據所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述第三位置信息,獲得所述電子設備的位置數據;
在所述圖像數據中不包含所述電子標簽的圖像區域的情況下,對所述圖像數據中包含同一對象的多幀圖像分別進行圖像特征點提取并對相鄰圖像的圖像特征點進行處理,以得到第四位置信息;對所述運動數據中的加速度進行積分處理,以得到第五位置信息;根據所述第四位置信息和所述第五位置信息,獲得所述電子設備的位置數據。
2.根據權利要求1所述的方法,根據所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述第三位置信息,獲得所述電子設備的位置數據,包括:
對所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述第三位置信息分別在X軸上的坐標值進行加權平均處理,以得到所述電子設備在X軸上的第一坐標值;
對所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述第三位置信息分別在Y軸上的坐標值進行加權平均處理,以得到所述電子設備在Y軸上的第二坐標值;
對所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述第三位置信息分別在Z軸上的坐標值進行加權平均處理,以得到所述電子設備在Z軸上的第三坐標值,所述第一坐標值、所述第二坐標值和所述第三坐標值組成所述電子設備的位置數據。
3.根據權利要求1所述的方法,根據所述第四位置信息和所述第五位置信息,獲得所述電子設備的位置數據,包括:
對所述第四位置信息和所述第五位置信息分別在X軸上的坐標值進行加權平均處理,以得到所述電子設備在X軸上的第四坐標值;
對所述第四位置信息和所述第五位置信息分別在Y軸上的坐標值進行加權平均處理,以得到所述電子設備在Y軸上的第五坐標值;
對所述第四位置信息和所述第五位置信息分別在Z軸上的坐標值進行加權平均處理,以得到所述電子設備在Z軸上的第六坐標值,所述第四坐標值、所述第五坐標值和所述第六坐標值組成所述電子設備的位置數據。
4.根據權利要求1所述的方法,在所述圖像數據中包含所述電子標簽的圖像區域的情況下,所述方法還包括:
至少根據所述電子設備的位置數據和所述第三位置信息,標定所述IMU的部件參數。
5.根據權利要求4所述的方法,所述至少根據所述電子設備的位置數據和所述第三位置信息,標定所述IMU的部件參數,包括:
至少根據所述第三位置信息與其對應的所述電子設備的位置數據,獲得誤差數據;
根據所述誤差數據,獲得參數矩陣,所述參數矩陣包含多個矩陣元素;
將所述矩陣元素的元素值設置為所述IMU中與所述矩陣元素對應的部件參數。
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