[發明專利]數字通道的校準裝置和方法

在審

• 申請號: 202010581131.9
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111707927A
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 王橋元;鐘鋒浩
• 申請（專利權）人: 杭州長川科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R35/00
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 張超

本申請涉及一種數字通道的校準裝置和方法，其中，該校準裝置包括：第一連接端、第二連接端、采樣模塊、開關模塊以及校準控制模塊；其中，第一連接端和第二連接端分別用于連接數字通道的兩個端子，且第一連接端和第二連接端短接；采樣模塊的第一端與第一連接端子電性連接，第二端與開關模塊電性連接；校準控制模塊包括輸出校準單元、測量校準單元和控制單元；開關模塊分別與輸出校準單元的輸入端和輸出端、測量校準單元的輸出端、控制單元以及接地端電性連接。通過本申請，解決了相關技術中對數字通道的校準效率低的問題，實現了提高對數字通道的校準效率的技術效果。

技術領域

本申請實施例涉及測試電路技術領域，特別是涉及一種數字通道的校準裝置和方法。

背景技術

集成電路(Integrated Circuit，簡稱為IC)；顧名思義，就是把一定數量的常用電子元件，如電阻、電容、晶體管等，以及這些元件之間的連線，通過半導體工藝集成在一起的具有特定功能的電路。隨著集成電路行業的快速發展，集成電路的工作速度不斷提高，因此，對集成電路測試系統的測量準確度和輸出準確度都提出了更高的要求。

集成電路測試系統包括多個數字通道，其中，單個數字通道由驅動器、比較器、可調節負載、參數測量單元注冊。集成電路測試系統接口板或者加載版將部分或全部數字通道分別獨立引出，在接口板上表現為獨立的焊盤陣列結構。因此，集成電路測試系統中的數字通道的輸出以及測量是否存在誤差也影響著集成電路測試系統的可靠度以及準確度。

目前，相關技術中的數字通道的校準往往是通過萬用表進行，例如：在對數字通道進行輸出校準的情況下，控制數字通道輸出電壓，使用萬用表測量數字通道的輸出接口，并將測得的值和預設的值進行比較和校準；然后改變數字通道輸出電壓，并重復上述過程；在對數字通道進行測量校準的情況下，短接2個數字通道，控制其中一個通道為輸出，另一個通道為輸入，并將測得的輸入值與預設的輸出值進行比較和校準。因此，這類技術方案往往需要手動對數字通道以及萬用表進行連線，切換對數字通道進行校準模式時需要手動改變連線，存在對數字通道的校準效率低、速度慢的技術缺陷。

目前針對相關技術中對數字通道的校準效率低的問題，尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本申請實施例提供了一種數字通道的校準裝置和方法，以至少解決相關技術中對數字通道的校準效率低的問題。

第一方面，本申請實施例提供了一種數字通道的校準裝置，所述校準裝置包括：第一連接端、第二連接端、采樣模塊、開關模塊以及校準控制模塊；其中，

所述第一連接端和所述第二連接端分別用于連接數字通道的兩個端子，且所述第一連接端和所述第二連接端短接；

所述采樣模塊的第一端與所述第一連接端子電性連接，第二端與所述開關模塊電性連接；

所述校準控制模塊包括輸出校準單元、測量校準單元和控制單元；

所述開關模塊分別與所述輸出校準單元的輸入端和輸出端、所述測量校準單元的輸出端、所述控制單元以及接地端電性連接；所述開關模塊用于根據所述控制單元的第一控制信號，將所述輸出校準單元的輸入端和輸出端并聯于所述采樣模塊兩端且所述接地端與所述采樣模塊的第二端接通；所述開關模塊還用于根據所述控制單元的第二控制信號，將所述測量校準單元的輸出端與所述采樣模塊的第二端接通。

在其中一些實施例中，所述采樣模塊包括可調阻值單元。

在其中一些實施例中，所述可調阻值單元包括第一電阻、第二電阻、第一開關以及第二開關，其中，

所述第一開關的第一端以及所述第二開關的第一端均與所述第一連接端子電性連接，所述第一開關的第二端與所述第一電阻的第一端電性連接，所述第二開關的第二端與所述第二電阻的第一端電性連接；