[發明專利]一種印花織物疵點檢測方法

在審

• 申請號: 202010580937.6
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111861996A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 張緩緩;馬金秀;景軍鋒;李鵬飛;蘇澤斌
• 申請（專利權）人: 西安工程大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/136;G06T3/40;G06T5/00
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 寧文濤

1.一種印花織物疵點檢測方法，其特征在于，具體按以下步驟實施：

步驟1，將待檢測的印花織物疵點圖像縮放，然后將縮放后的印花織物疵點圖像做顯著性檢測，得到印花織物疵點顯著性圖像；

步驟2，對經步驟1后得到的印花織物疵點顯著性圖像進行大津閾值二值化處理；

步驟3，將經步驟2處理后的二值圖作為mask掩碼圖，確定待修復區域，然后利用Criminisi算法修復原印花缺陷樣本，得到修復的印花圖；

步驟4，將經步驟3后得到的修復的印花圖與原印花圖做減法，得到差別圖。

2.根據權利要求1所述的一種印花織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟1中將待檢測的印花織物疵點圖像縮放至256×256像素。

3.根據權利要求1所述的一種印花織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟1中將印花織物疵點圖像采用FT顯著性算法做顯著性檢測，具體步驟如下：

步驟1.1，采用高斯函數的差分算子作為帶通濾波器對疵點圖像進行顯著性處理，高斯差分式表示為：

式中，σ₁和σ₂為高斯標準差，且σ₁＞σ₂；

對于大小為W像素×H像素的圖像I的顯著性圖S定義為：

S(x,y)＝|I_μ-I_ωhc(x,y)| (2)

式中，I_μ是原圖像素值的算術平均值，I_ωhc(x,y)是經過DoG算子模糊后圖像(x,y)處的像素值；

步驟1.2，將式(2)加入顏色特征和亮度特征，其擴展公式為：

S(x,y)＝||I_μ-I_ωhc(x,y)|| (3)

式中，||||為L₂范數，I_μ是原圖的Lab空間的平均值，I_ωhc(x,y)是經過DoG算子模糊后圖像(x,y)處的Lab向量值[L,a,b]^T。

4.根據權利要求1所述的一種印花織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟2具體內容包括：

計算經步驟1得到的顯著性圖中的類間方差，類間方差定義公式為：

g＝ω₀ω₁(μ₀-μ₁)² (4)

式中，g為類間方差，ω₀為前景的像素點數占整幅圖像的比例，μ₀為其平均灰度，ω₁為背景像素點數占整幅圖像的比例，μ₁為其平均灰度。

5.根據權利要求1所述的一種印花織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟3具體內容包括：

步驟3.1，在需要修復區域的輪廓上計算權重，選擇權重最大的輪廓點作為待修復點，權重的定義為：

P(p)＝C(p)D(p) (5)

式中，C(p)為置信度項，D(p)為數據項，且定義為：

式中，點p為破損區域邊沿上的指定一點，Ψ_p為以p為中心的待修復塊，|Ψ_p|為圖像塊Ψ_p的像素點總數，為點p的等照度線方向，n_p是修復邊緣δΩ上p點處的法向量，α為歸一化因子；

步驟3.2，在該待修復點周圍領域取一個一定大小的patch塊，在圖像其他區域內找該patch塊的最近鄰patch；

步驟3.3，將最近鄰patch塊對應到需要修復區域的部分，復制到等待修復的區域，再重復上述步驟，直至所有點都填充完畢。