[發明專利]一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置及用其測試的方法

在審

• 申請號: 202010579297.7
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111678652A
• 公開（公告）日: 2020-09-18
• 發明（設計）人: 張偉健;夏泓瑋;王航
• 申請（專利權）人: 北京品馳醫療設備有限公司
• 主分類號: G01M3/06
• 分類號: G01M3/06;G01M13/005
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 史雙元

1.一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，包括密封圈配合插入物、外殼、頂蓋、氣體快插接頭；

所述外殼包括上端部和下端部；所述上端部有一止口，用于放入所述頂蓋；所述下端部有一安裝孔，用于安裝所述氣體快插接頭；

所述氣體快插接頭用于接入外部氣源，所述外部氣源能夠輸出可控氣壓的氣體；

所述頂蓋上有一通孔，用于將所述密封圈插入；

所述配合插入物，在對密封圈密封性能進行檢測時，插入所述密封圈中。

2.根據權利要求1所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述頂蓋與所述外殼間隙配合，并通過激光焊接密封。

3.根據權利要求2所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述頂蓋的所述通孔的直徑小于所述密封圈的暴露端直徑，大于所述密封圈的插入端直徑，所述密封圈插入所述通孔為間隙配合。

4.根據權利要求3所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述通孔的深度大于所述密封圈的工作面厚度。

5.根據權利要求4所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述密封圈配合插入物插入所述密封圈，使所述密封圈的工作面產生壓縮，從而產生密封效果。

6.根據權利要求5所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述密封圈配合插入物為標準堵頭或電極。

7.根據權利要求1所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述下端部的所述安裝孔為螺紋孔。

8.根據權利要求1所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述外殼和頂蓋的材質為不銹鋼。

9.根據權利要求1所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置，其特征在于：所述外殼外形為直徑不超過40mm的圓柱形，內腔體積在15mL以下，能夠承受至少2個標準大氣壓。

10.使用權利要求1-9任一項所述的一種密封圈密封性能粗檢漏用測試裝置進行測試的方法，其特征在于：

將所述密封圈插入所述頂蓋的通孔中，在接縫處周圍涂布密封用液態硅橡膠，使所述密封圈密封固定在所述頂蓋上；

在所述密封圈中插入所述密封圈配合插入物，所述氣體快插接頭接入氣管，充入干燥潔凈的空氣到一個大氣壓；

將所述測試裝置頭部斜向下45°角沒入裝有透明液體的透明容器中，控制所述密封圈頂部位于液面以下10cm-15cm；

觀察所述密封圈和所述配合插入物接縫處是否有氣泡生成。