[發明專利]一種蓋板終檢AOI設備及其檢測方法

在審

• 申請號: 202010579282.0
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111707669A
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 王發昆;虞仁;謝啟芳;張榮華
• 申請（專利權）人: 東莞市鼎力自動化科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 深圳國海智峰知識產權代理事務所(普通合伙) 44489
• 代理人: 王慶海;劉軍鋒

1.一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，包括基座和至少一組設置在所述基座上的檢測工線，所述檢測工線包括上料組件、移送組件、面陣檢測組件、暗場檢測組件、明暗場檢測組件、磁力傳送組件及旋轉組件，所述上料組件、所述面陣檢測組件、所述暗場檢測組件及所述明暗場檢測組件從輸入端至輸出端依次排列設置，所述磁力傳送組件固定在所述基座上并橫跨所述暗場檢測組件及所述明暗場檢測組件，所述移送組件設于所述上料組件、所述面陣檢測組件及所述暗場檢測組件的旁側，所述旋轉組件設于所述暗場檢測組件和所述明暗場檢測組件的旁側。

2.根據權利要求1所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述磁力傳送組件包括傳送基座、傳送驅動裝置、旋轉編碼器及若干個磁力滾輪，所述磁力滾輪間隔設置在所述傳送基座上，所述傳送驅動裝置與所述磁力滾輪傳動連接，所述旋轉編碼器安裝在所述傳送基座上并與所述磁力滾輪電性連接。

3.根據權利要求1所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述面陣檢測組件包括面陣相機、面陣檢測座及面陣移動件，所述面陣相機夾持在所述面陣移動件上，所述面陣檢測座包括面陣檢測底板、面陣檢測面板及面陣檢測板支撐塊，所述面陣檢測底板中部設有面陣檢測通孔，所述面陣檢測板支撐塊設于所述面陣檢測底板上并架接所述面陣檢測面板，且所述面陣檢測面板位于所述面陣相機上方，所述面陣檢測面板的側邊設有面陣發光條。

4.根據權利要求1所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述暗場檢測組件包括暗場線掃相機、暗場移動件及兩個互為對稱的暗場光源件，所述暗場線掃相機夾持在所述暗場移動件上，且所述暗場線掃相機位于兩個所述暗場光源件間隔空間的上方，所述暗場光源件包括暗場光源座及暗場發光條，所述暗場發光條轉動連接在所述暗場光源座上。

5.根據權利要求1所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述明暗場檢測組件包括明暗場光源件、第一明暗場線掃相機、第二明暗場線掃相機、第三明暗場線掃相機、第一明暗場移動件、第二明暗場移動件及第三明暗場移動件，所述第一明暗場線掃相機夾持在所述第一明暗場移動件上并位于所述明暗場光源件上方，所述第二明暗場線掃相機夾持在所述第二明暗場移動件上并位于所述明暗場光源件下方，所述第三明暗場線掃相機夾持在所述第三明暗場移動件上并傾斜設置在所述第二明暗場線掃相機旁側。

6.根據權利要求5所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述明暗場光源件為長方體狀，所述明暗場光源件內部設有若干發光體，所述明暗場光源件的頂部設有弧形凹面，所述弧形凹面為透視面，所述第一明暗場線掃相機位于所述弧形凹面上方，所述第二明暗場線掃相機位于所述弧形凹面下方，所述第三明暗場線掃相機位于所述弧形凹面側下方。

7.根據權利要求6所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述第三明暗場移動件包括調角件，所述第三明暗場線掃相機通過調角滑塊與所述調角件滑動連接。

8.根據權利要求1所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，所述旋轉組件包括旋轉基座、吸附件、旋轉驅動裝置及移位件，所述移位件固定在所述旋轉基座上，所述旋轉驅動裝置固定在所述移位件上，所述吸附件與所述旋轉驅動裝置的輸出端電性連接。

9.根據權利要求1所述的一種蓋板終檢AOI設備，其特征在于，還包括防護罩，所述防護罩固定在所述基座上并包裹所述檢測工線，所述防護罩的頂部設置有空氣過濾器。

10.一種蓋板外觀檢測方法，其特征在于，基于權利要求1-9中任一項所述蓋板終檢AOI設備，包括：

將蓋板放置在面陣檢測組件上，檢測蓋板弧邊是否出現崩邊、崩角缺陷；

將蓋板放在暗場檢測組件處移動，進行橫向線掃檢測，檢測蓋板橫向上是否出現劃痕，以及出現的劃痕是否在誤差范圍內；

將蓋板旋轉方向，放在明暗場檢測組件處移動，檢測蓋板正面及背面是否污點，并且，進行縱向線掃檢測，檢測蓋板縱向上是否出現劃痕，以及出現的劃痕是否在誤差范圍內；

同時，設置旋轉編碼器獲取脈沖數，通過編碼器脈沖來監控磁力滾輪的傳動速度，并匹配線掃相機；其中，匹配關系為：編碼器脈沖數＝磁力滾輪周長/線掃相機最小像素精度。