[發(fā)明專利]一種測量齒轂M值的檢具在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010577522.3 | 申請日： | 2020-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN113834407A | 公開（公告）日： | 2021-12-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 唐大春;賀志超;劉波浪;扶平 | 申請（專利權(quán)）人： | 長春市春求科技開發(fā)有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/14 | 分類號： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 長春眾邦菁華知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 22214 | 代理人： | 陳新英 |
| 地址： | 130000 吉林省*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 測量 | ||
1.一種測量齒轂M值的檢具，其特征在于，包括：
底板(1)，其用以支撐檢具，并沿X軸豎直放置、與被測齒轂的軸線垂直布置；
其中，所述底板(1)的中間固定連接定位支座(5)，所述被測齒轂套裝定位在所述定位支座(5)上；
固定測頭部件(2)，兩組所述固定測頭部件(2)關(guān)于所述X軸對稱布置在所述被測齒轂下方的兩側(cè)，所述固定測頭部件(2)提供的固定測球(20)在固定測頭運動裝置驅(qū)動下能夠卡接所述被測齒轂的齒槽；
活動測頭部件(3)，其在被測齒轂上方設(shè)有沿所述X軸運動的活動測桿(31)，其下方安裝有能夠在活動測頭運動裝置驅(qū)動下與所述齒槽接觸或脫離活動測頭(30)；
其中，兩個所述固定測球(20)、與所述活動測頭(30)共同形成均布在被測齒轂周向的三個支點，用以共同夾緊被測齒轂；
杠桿測量部件(4)，其包括杠桿(40)、與所述底板(1)固定連接的測量支座(41)；
其中，所述杠桿(40)的杠桿支點(401)安裝在所述測量支座(41)上，所述杠桿(40)的測量端抵接于所述活動測頭(30)上，所述杠桿(40)的輸出端抵接千分表的千分表側(cè)桿(42)；
所述活動測桿(31)與所述測量支座(41)滑動連接。
2.如權(quán)利要求1所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，兩組所述固定測頭部件(2)的固定測球(20)沿與所述X軸呈30°的方向運動、且兩個所述固定測球(20)分別形成的運動軌跡的交點位于所述被測齒轂的外部。
3.如權(quán)利要求2所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述固定測球(20)固定連接固定測量棒(21)，所述測量棒(21)其指向被測齒轂的圓心；
所述測量棒(21)的另一端連接活動滑臺(23)，將所述固定測球(20)緊密抵接在所述活動滑臺(23)和被測齒轂之間。
4.如權(quán)利要求1所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述活動測頭(30)沿X軸能夠彈性抵接在被測齒轂和所述測量支座(41)之間。
5.如權(quán)利要求1所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述固定測頭運動裝置和所述活動測頭運動裝置為活動滑臺結(jié)構(gòu)或者彈簧。
6.如權(quán)利要求1所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述活動測桿(31)在所述活動測頭(30)上方固定連接測量環(huán)(32)；
所述杠桿測量部件(4)的測量端設(shè)有用于與測量環(huán)(32)的上表面接觸的球形的杠桿測頭(402)，所述杠桿(40)的上端與所述千分表側(cè)桿(42)接觸；以使所述杠桿(40)上方在所述測量環(huán)(32)的驅(qū)動下繞所述杠桿支點(401)轉(zhuǎn)動從而擠壓千分表表頭，以使所述千分表做相應(yīng)變化；
杠桿測頭(402)和所述杠桿支點(401)之間連接杠桿彈簧(403)的一端，所述杠桿彈簧(403)的另一端抵接在所述測量支座(41)下方。
7.如權(quán)利要求6所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述杠桿測頭(402)和所述千分表側(cè)桿(42)均位于所述杠桿(40)的同一端；所述杠桿測頭(402)到所述杠桿支點(401)的距離和所述千分表側(cè)桿(42)到所述杠桿支點(401)的距離比為3:2。
8.如權(quán)利要求7所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述測量支座(41)安裝有限位螺釘(43)，限位螺釘(43)位于所述杠桿(40)遠(yuǎn)離所述測量端的一端上方。
9.如權(quán)利要求8所述的測量齒轂M值的檢具，其特征在于，所述測量支座(41)內(nèi)部安裝有轉(zhuǎn)動機(jī)構(gòu)；
所述轉(zhuǎn)動機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)軸(61)和定位銷(62)；
所述活動測桿(31)的上方垂直固定連接所述定位銷(62)；
所述轉(zhuǎn)軸(61)由所述測量支座(41)轉(zhuǎn)動支撐、其開有槽體；
所述活動測頭卡接所述齒槽時，所述槽體(63)支撐所述定位銷(62)的下表面進(jìn)行M值的測量；
測量結(jié)束后轉(zhuǎn)動所述轉(zhuǎn)軸(61)使所述槽體翻轉(zhuǎn)到遠(yuǎn)離所述定位銷(62)的一側(cè)，所述定位銷(62)的下表面重新搭接所述轉(zhuǎn)軸(61)的表面，從而所述活動測頭(31)遠(yuǎn)離所述齒槽。
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