[發明專利]磁粉探傷檢查用試驗體及其制造方法在審
| 申請號： | 202010577423.5 | 申請日： | 2020-06-22 |
| 公開（公告）號： | CN112147214A | 公開（公告）日： | 2020-12-29 |
| 發明（設計）人： | 一本哲男;伊東俊 | 申請（專利權）人： | 碼科泰克株式會社 |
| 主分類號： | G01N27/84 | 分類號： | G01N27/84 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人： | 陳偉;周麗娜 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 探傷 檢查 試驗 及其 制造 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種磁粉探傷檢查用試驗體，其為對磁粉探傷檢查系統的損傷檢測性能進行評價的鐵等強磁性體的試驗體，其特征在于，
在損傷的內部含浸有非磁性物質。
2.根據權利要求1所述的磁粉探傷檢查用試驗體，其特征在于，
所述非磁性物質含浸直到所述損傷的大致底部。
3.根據權利要求1或2所述的磁粉探傷檢查用試驗體，其特征在于，
所述非磁性物質為硅酮。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的磁粉探傷檢查用試驗體，其特征在于，
所述試驗體的表面的未含浸在所述損傷的內部的所述非磁性物質被去除。
5.一種磁粉探傷檢查用試驗體的制造方法，其為對磁粉探傷檢查系統的損傷檢測性能進行評價的試驗體的制造方法，其特征在于，包括：
在損傷的表面涂敷非磁性物質的工序；
使用真空將所述非磁性物質含浸直到所述損傷的內部的大致底部的工序；以及
將未含浸在所述損傷的內部的所述非磁性物質去除的工序。
6.根據權利要求5所述的磁粉探傷檢查用試驗體的制造方法，其特征在于，
所述真空為負70kPa以下。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于碼科泰克株式會社，未經碼科泰克株式會社許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010577423.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
