[發(fā)明專利]信號調(diào)整器裝置與信號調(diào)整方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010576556.0
• 申請日: 2020-06-22
• 公開（公告）號: CN113904678A
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃銘崇;曾怡華
• 申請（專利權(quán)）人: 瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司
• 主分類號: H03L7/00
• 分類號: H03L7/00;H03H11/04
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 王紅艷

本公開涉及信號調(diào)整器裝置與信號調(diào)整方法，信號調(diào)整器裝置包含頻率調(diào)整電路、濾波器電路以及功率估算電路。頻率調(diào)整電路用以從信號產(chǎn)生器接收雙頻(two?tone)信號，并根據(jù)雙頻信號產(chǎn)生第一信號，其中信號產(chǎn)生器為根據(jù)第一系數(shù)與第二系數(shù)產(chǎn)生雙頻信號。濾波器電路用以對第一信號進(jìn)行濾波，以產(chǎn)生第二信號。功率估算電路用以檢測第二信號中關(guān)于雙頻信號的互調(diào)失真信號成分的功率，并根據(jù)該功率調(diào)整第一系數(shù)與第二系數(shù)中至少一者以降低該功率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是關(guān)于信號調(diào)整器裝置，尤其涉及用于校正信號產(chǎn)生器的線性度的信號調(diào)整器裝置與信號調(diào)整方法。

背景技術(shù)

為了獲得可信度較高的測試結(jié)果，測試儀器的規(guī)格通常需要比待測電路的規(guī)格還好。然而，隨著技術(shù)發(fā)展，集成電路的規(guī)格越來越高，使得現(xiàn)有的測試儀器已不足以驗證集成電路。為了能夠測試集成電路的操作是否正確，需要將現(xiàn)有的測試儀器更換為效能更好的測試儀器。如此，將使得測試成本大幅上升。

發(fā)明內(nèi)容

在一些實施例中，信號調(diào)整器裝置包含頻率調(diào)整電路、濾波器電路以及功率估算電路。頻率調(diào)整電路用以從信號產(chǎn)生器接收雙頻(two-tone) 信號，并根據(jù)雙頻信號產(chǎn)生第一信號，其中信號產(chǎn)生器為根據(jù)第一系數(shù)與第二系數(shù)產(chǎn)生雙頻信號。濾波器電路用以對第一信號進(jìn)行濾波，以產(chǎn)生第二信號。功率估算電路用以檢測第二信號中關(guān)于雙頻信號的互調(diào)失真信號成分的功率，并根據(jù)該功率調(diào)整第一系數(shù)與第二系數(shù)中至少一者以降低該功率。

在一些實施例中，信號調(diào)整方法包含下列操作：從信號產(chǎn)生器接收雙頻信號，并根據(jù)雙頻信號產(chǎn)生第一信號，其中信號產(chǎn)生器為根據(jù)第一系數(shù)與第二系數(shù)產(chǎn)生雙頻信號；對第一信號進(jìn)行濾波，以產(chǎn)生第二信號；以及檢測第二信號中關(guān)于雙頻信號的互調(diào)失真信號成分的功率，并根據(jù)該功率調(diào)整第一系數(shù)與第二系數(shù)中至少一者以降低功率。

有關(guān)本發(fā)明的特征、實作與效果，配合圖式作優(yōu)選實施例詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1為根據(jù)本發(fā)明一些實施例繪制一種信號調(diào)整器裝置的示意圖；

圖2為根據(jù)本發(fā)明一些實施例繪制圖1中多個信號成分的變化趨勢的示意圖；以及

圖3為根據(jù)本發(fā)明一些實施例繪制一種信號調(diào)整方法的流程圖。

具體實施方式

本文所使用的所有詞匯具有其通常的含義。上述的詞匯在普遍常用的字典中的定義，在本發(fā)明的內(nèi)容中包含任一于此討論的詞匯的使用例子僅為示例，不應(yīng)限制到本發(fā)明的范圍與含義。同樣地，本發(fā)明亦不僅以于此說明書所示出的各種實施例為限。

關(guān)于本文中所使用的『耦接』或『連接』，均可指兩個或多個組件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，亦可指兩個或多個組件相互操作或動作。如本文所用，用語『電路』可為由至少一個晶體管與/或至少一個主被動組件按一定方式連接以處理信號的裝置。

如本文所用，用語『與/或』包含了列出的關(guān)聯(lián)項目中的一個或多個的任何組合。在本文中，使用第一、第二與第三等的詞匯，是用于描述并辨別各個組件。因此，在本文中的第一組件也可被稱為第二組件，而不脫離本發(fā)明的本意。為易于理解，在各圖式中的類似組件將被指定為相同標(biāo)號。

圖1為根據(jù)本發(fā)明一些實施例繪制一種信號調(diào)整器裝置100的示意圖。在一些實施例中，信號調(diào)整器裝置100可用于校正從信號產(chǎn)生器100A產(chǎn)生的一信號(例如為，但不限于，雙調(diào)(two-tone)信號ST)，以提升該信號的線性度。如此，經(jīng)校正后的該信號可用來測試待測電路100B，以取得更為準(zhǔn)確的測試結(jié)果。在一些實施例中，信號調(diào)整器裝置100為獨立于待測電路100B的一外部裝置。在一些實施例中，信號調(diào)整器裝置100 可整合于待測電路100B內(nèi)。例如，待測電路100B為一芯片，且信號調(diào)整器裝置100可為該芯片內(nèi)的一測試電路中的一部分。上述關(guān)于信號調(diào)整器裝置100的應(yīng)用方式僅用于示例，且本發(fā)明并不以此為限。