[發明專利]一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器及制備方法有效
| 申請號: | 202010575999.8 | 申請日: | 2020-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN111879251B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發明(設計)人: | 蔣維樂;張福政;林啟敬;趙娜;趙立波;韓楓;李磊 | 申請(專利權)人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | G01B11/16 | 分類號: | G01B11/16 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 姚詠華 |
| 地址: | 710049 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 建筑 構件 彎曲 變形 檢測 傳感器 制備 方法 | ||
1.一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器,其特征在于,包括梁膜結構(9)和探針光纖(10),梁膜結構(9)包括硅基底(1),硅基底(1)兩端面分別設有二氧化硅層(2),硅基底(1)的一側刻蝕有用于與待測建筑構件(11)端部表面貼合凹槽膜結構,硅基底的另一側刻蝕有背部凹槽;凹槽膜結構槽底與背部凹槽槽底間距小于1mm,探針光纖一端通過環形器(6)連接于寬帶光源(7)和光譜儀(8),探針光纖(10)的另一端為錐形探針結構,探針光纖(10)的錐形探針結構置于梁膜結構(9)的背部凹槽內。
2.根據權利要求1所述的一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器,其特征在于,探針光纖(10)的另一端通過光纖耦合緊固套(5)與硅基底的背部凹槽連接固定。
3.根據權利要求1所述的一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器,其特征在于,硅基底的一側刻蝕有兩階階梯凹槽,形成第一膜結構和第二膜結構,第二膜結構的端面能夠與待測建筑構件端部表面貼合。
4.根據權利要求3所述的一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器,其特征在于,硅基底第二膜結構端面與待測建筑構件端部表面貼合,待測建筑構件與第一膜結構之間采用膠粘連接。
5.根據權利要求1所述的一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器,其特征在于,光纖耦合緊固套(5)中間設有通孔,光纖耦合緊固套(5)套設于探針光纖(10)外側,光纖耦合緊固套(5)與探針光纖(10)外側過盈配合。
6.根據權利要求1或5所述的一種建筑構件彎曲變形檢測傳感器,其特征在于,光纖耦合緊固套(5)采用彈性元件。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安交通大學,未經西安交通大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010575999.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





