[發(fā)明專利]一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)與方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010575638.3
• 申請(qǐng)日: 2020-06-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111781445B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉書(shū)煥;黃泰燚;李卓奇;張坤;李龍;劉雙瑛;張君;阿米爾;許江濤;張國(guó)和;陳偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 西安交通大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R29/08
• 代理公司: 西安智大知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61215
• 代理人: 何會(huì)俠

1.一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，該測(cè)試系統(tǒng)包括射頻信號(hào)源、射頻功分器、恒壓電壓源、半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀、矩陣開(kāi)關(guān)、上位機(jī)、輻照測(cè)試板以及測(cè)試樣品；所述測(cè)試樣品固定于輻照測(cè)試板上；輻照測(cè)試板放置于輻照測(cè)試間內(nèi)；測(cè)試樣品通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)與半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀連接；矩陣開(kāi)關(guān)在上位機(jī)控制下進(jìn)行信號(hào)連接切換；恒壓電壓源通過(guò)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀為測(cè)試樣品提供偏置電壓；半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀在上位機(jī)控制下完成參數(shù)測(cè)試任務(wù)；射頻信號(hào)源為測(cè)試樣品提供電磁干擾信號(hào)；射頻功分器將一路電磁干擾信號(hào)等分為多路信號(hào)，用于多個(gè)測(cè)試樣品；

其特征在于：所述測(cè)試方法步驟如下:

1)將所有測(cè)試樣品通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)與半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀相連；通過(guò)上位機(jī)為半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀每一個(gè)通道設(shè)置不同參數(shù)；使測(cè)試樣品工作在實(shí)驗(yàn)需要的不同狀態(tài)；

2)根據(jù)測(cè)試需求在上位機(jī)中設(shè)置不同測(cè)試任務(wù)，形成測(cè)試任務(wù)列表；

3)通過(guò)射頻信號(hào)源生成需要的信號(hào)頻率和信號(hào)幅值的電磁干擾信號(hào)；根據(jù)測(cè)試樣品數(shù)目選擇射頻功分器類型和射頻信號(hào)源的數(shù)量，最終產(chǎn)生與測(cè)試樣品數(shù)目相等的電磁干擾信號(hào)；電磁干擾信號(hào)通過(guò)射頻線纜注入到測(cè)試樣品中；

4)將測(cè)試樣品放置于輻照測(cè)試間進(jìn)行輻照；當(dāng)輻照總劑量達(dá)到需求劑量點(diǎn)時(shí)，通過(guò)上位機(jī)控制半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀根據(jù)測(cè)試任務(wù)列表完成參數(shù)測(cè)試；

5)重復(fù)步驟4)，直至完成所有輻照劑量點(diǎn)的參數(shù)測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于：所述半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀能夠完成在線參數(shù)測(cè)試。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于：所述射頻信號(hào)源能夠產(chǎn)生任意頻率、任意幅值和任意波形的信號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于：所述射頻功分器為一分n功分器，n根據(jù)測(cè)試樣品數(shù)目選取。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于：所述矩陣開(kāi)關(guān)需要根據(jù)測(cè)試樣品數(shù)目選取對(duì)應(yīng)通道數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于：所述測(cè)試樣品有預(yù)留電磁干擾信號(hào)的注入端口。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種輻照總劑量與電磁干擾協(xié)合損傷效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于：能夠同時(shí)測(cè)量多個(gè)多種測(cè)試樣品，將測(cè)試樣品設(shè)置為不同工作狀態(tài)，對(duì)比分析工作狀態(tài)對(duì)其損傷效應(yīng)的影響。