[發明專利]測距裝置以及外部光照度測定方法

在審

• 申請號: 202010574965.7
• 申請日: 2020-06-22
• 公開（公告）號: CN112130159A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 中村稔;高橋祐輝;渡邊淳
• 申請（專利權）人: 發那科株式會社
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S17/894;G01J1/04;G01J1/42
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 范勝杰;曹鑫

1.一種測距裝置，其特征在于，具備：

發光部，其能夠發出向物體照射的測定光；

受光部，其經由光學濾波器從所述物體接受光，該光學濾波器使與所述測定光相同波段的光透射；

距離計算部，其基于在多個定時分別蓄積與接受的所述光對應的電荷而得的各電荷量，計算到所述物體的距離，所述多個定時為相對于所述測定光的發光定時延遲了預定相位的定時；以及

外部光照度計算部，其基于由所述受光部取得的電荷量和所述物體的反射率，計算在所述光學濾波器的分光靈敏度下照射所述物體的外部光照度。

2.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

透射所述光學濾波器的光是近紅外光。

3.根據權利要求1或2所述的測距裝置，其特征在于，

基于計算出的到所述物體的距離和根據所述各電荷量求出的測定光的反射亮度，計算所述物體的反射率。

4.根據權利要求1或2所述的測距裝置，其特征在于，

所述物體的反射率是已知的。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的測距裝置，其特征在于，

基于根據所述各電荷量求出的外部光的反射亮度和所述物體的反射率來計算所述外部光照度。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的測距裝置，其特征在于，

該測距裝置還具備輸出所述外部光照度的輸出部。

7.根據權利要求6所述的測距裝置，其特征在于，

所述受光部具備二維排列的多個像素，所述外部光照度計算部按每個像素計算外部光照度，所述輸出部輸出外部光照度圖像。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的測距裝置，其特征在于，

該測距裝置還具備警告部，其在所述外部光照度為閾值以上的情況下輸出警告信號。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的測距裝置，其特征在于，

該測距裝置還具備圖像輸出部，其輸出對所述外部光照度為閾值以上的像素進行強調顯示而得的外部光照度強調圖像。

10.一種外部光照度測量方法，其特征在于，包括：

選擇是否發出向物體照射的測定光的步驟；

經由光學濾波器從所述物體接受光的步驟，該光學濾波器使與所述測定光相同波段的光透射；以及

根據與接受的所述光對應的電荷量和所述物體的反射率，計算在所述光學濾波器的分光靈敏度下照射所述物體的外部光照度的步驟。