[發明專利]一種LD偏執電流檢測方法及電路、光模塊

在審

• 申請號: 202010574664.4
• 申請日: 2020-06-22
• 公開（公告）號: CN111693757A
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發明（設計）人: 楊洪
• 申請（專利權）人: 索爾思光電（成都）有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;H04B10/073
• 代理公司: 北京市領專知識產權代理有限公司 11590
• 代理人: 張玲

本發明涉及一種LD偏執電流檢測方法及電路、光模塊，所述光模塊包括TOSA和MCU，所述TOSA包括n個LD單元，n為大于等于1的整數，所述方法是：使一個LD單元連接一個采樣電阻，使每個采樣電阻的兩端連接MCU，利用MCU采集所述采樣電阻兩端的電壓差，所述電壓差與采樣電阻的阻值之比即得偏執電流。本發明方案直接利用MCU采樣電壓，無需額外布置采樣電路，因此可以有效地減少空間占用，同時也降低硬件成本。

技術領域

本發明涉及光通信技術領域，具體涉及一種LD偏執電流檢測方法及電路、光模塊。

背景技術

光模塊的主要功能是實現光電/電光變換，是光纖通信系統的重要組成部分。光模塊主要包括光發射次模塊(TOSA)和光接收次模塊(ROSA)，激光發光二極管LD是TOSA的必要組成器件，用于發射出激光束。在實際應用中，需要實時監測LD的偏執電流，以監測LD的工作狀態是否正常。目前監測LD的方法是，搭建硬件電路，由電流檢測放大器或運放搭建的檢測電路組成，該電流檢測電路雖然能夠較好地監測LD的偏執電流，但是也存在缺陷，例如，由運放組成的電路要占用電路板空間，使得電路板的尺寸就會相對更大，而且一個通道就要配置一個電流監測電路，進一步增大了電路板的尺寸，繼而為實現光模塊小型化的目的提出了更高的要求。

發明內容

本發明的目的在于改善現有技術中所存在的電路板占用空間大的不足，提供一種LD偏執電流檢測方法及電路，可以避免運放等硬件的使用，不僅節省空間，而且還降低成本。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種LD偏執電流檢測方法，所述光模塊包括TOSA和MCU，所述TOSA包括n個LD單元，n為大于等于1的整數，使一個LD單元連接一個采樣電阻，使每個采樣電阻的兩端連接MCU，利用MCU采集所述采樣電阻兩端的電壓差，所述電壓差與采樣電阻的阻值之比即得偏執電流。

上述方案中，直接利用MCU采樣電壓，電壓與電阻之比即得偏執電流，實現方式簡單，而且無需額外布置其他采樣電路，因此可以極大地減小電路板的空間尺寸，同時也可以降低傳統采樣電路的硬件成本，為實現光模塊小型化、低成本化提供了技術支持。

上述方法中，使每個采樣電阻的第一端均連接MCU的同一個第一ADC電壓采樣端口，使每個采樣電阻的第二端分別連接至MCU的一個第二ADC電壓采樣端口。

一般地，針對于同一個光模塊，會采用相同規格的LD，因此可以給每個LD提供相同的電源電壓，即通過同一個電壓源提供相同電壓，此時則只需一個ADC電壓采樣端口檢測供電電壓，繼而可以減少MCU的ADC端口的占用量。

一種LD偏執電流檢測電路，包括MCU和n個LD單元，一個LD單元連接有一個采樣電阻，所述MCU提供一個共用的第一ADC電壓采樣端口和n個第二ADC電壓采樣端口，每個采樣電阻的第一端均連接所述共用的第一ADC電壓采樣端口，每個采樣電阻的第二端分別連接至一個第二ADC電壓采樣端口，n為大于等于1的整數。

與現有技術相比，本發明利用MCU采集電壓，而不是額外單獨布置采樣電路，繼而減小了光模塊的尺寸，也降低了成本，為實現光模塊小型化、低成本化提供了技術支持。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本發明的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。

圖1為本發明光模塊中LD單元與MCU的連接示意圖。

具體實施方式