[發明專利]基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法

有效

• 申請號: 202010574643.2
• 申請日: 2020-06-22
• 公開（公告）號: CN111665506B
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: 楊娟娟;賀榮榮;高陽;馮帆;黨紅杏;王萬林
• 申請（專利權）人: 西安空間無線電技術研究所
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 劉秀祥

1.一種基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、根據SAR系統分段變重頻采樣參數，確定均勻化重采樣脈沖重復頻率，然后構造方位均勻化重采樣時間；

S2、根據非均勻采樣時間和波束中心旋轉調頻斜率，對SAR系統的回波數據進行去斜處理；

S3、根據各均勻采樣子段中心斜視角和子段脈沖重復頻率，判斷均勻采樣子段是否需要做頻譜畸變校正；如果需要做頻譜畸變校正轉入S4，否則轉入S5；

S4、根據均勻采樣子段的中心斜視角和方位采樣時間，在距離頻域內對方位信號進行頻譜畸變校正，然后轉入S5；

S5、根據回波采集非均勻時間和S1中方位均勻化重采樣時間，對分段均勻采樣預處理數據進行插值重采樣；

S6、對進行了頻譜畸變校正的采樣子段，補償頻譜畸變校正因子；

頻譜畸變校正因子H_shift,com為：

H_shift,com(t_am,k；f_r)＝exp[-j2πΔf_dc(f_r)(t_am,k-t_ac,k)]

t_am,k為原子段數據的采樣時間[t_a0,k(1),t_a0,k(N_a,k)]對應均勻重采樣時間t_am中的時間范圍，f_r為距離向頻率，Δf_dc為多普勒頻率隨發射信號頻率的變化量，t_ac,k為t_a0,k的中心時間，t_a0,k為均勻子段數據的方位脈沖采樣時間；

S7、根據S1中方位均勻化重采樣時間，補償方位去斜因子H_deramp,com；

K_{a_rot}為多普勒中心旋轉調頻率；

將方位去斜因子H_deramp,com與均勻化重采樣數據時域復乘，即完成均勻化重采樣數據補償。

2.根據權利要求1所述的一種基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法，其特征在于，S2對SAR系統的回波數據進行去斜處理的方法為：根據方位分段變重頻各方位脈沖的采樣時間和波束中心多普勒頻率，確定多普勒中心旋轉調頻斜率，利用多普勒中心旋轉調頻斜率確定方位去斜因子，利用方位去斜因子對SAR系統的回波數據進行去斜處理。

3.根據權利要求1所述的一種基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法，其特征在于，S3根據各均勻采樣子段脈沖重復頻率確定最大不模糊斜視角，利用最大不模糊斜視角判斷均勻采樣子段是否需要做頻譜畸變校正。

4.根據權利要求1所述的一種基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法，其特征在于，S4中，針對斜視模式處理在距離頻域內對方位信號進行頻譜畸變校正。

5.根據權利要求1～4之一所述的一種基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法，其特征在于，S5中，對分段均勻采樣預處理數據進行sinc插值。

6.根據權利要求1～4之一所述的一種基于去斜處理的高分辨率SAR變重頻均勻化重采樣方法，其特征在于，如果均勻采樣子段進行了頻譜畸變校正時，方位sinc重采樣插值在距離頻域-方位時域完成；否則，方位sinc重采樣插值在距離-方位時域完成。