[發明專利]一種基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法在審
| 申請號: | 202010574358.0 | 申請日: | 2020-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN111551532A | 公開(公告)日: | 2020-08-18 |
| 發明(設計)人: | 冀海偉;吳銘敏;王琦;劉金霞;周曉波;秦玉嶺;吳麗 | 申請(專利權)人: | 南通大學 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;C09K11/65;C09K11/70;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 許潔 |
| 地址: | 226000*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 石墨 量子 熒光 探針 陣列 金屬 離子 檢測 方法 | ||
1.一種基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:首先,用水熱法制備石墨烯量子點,并以石墨烯量子點為原料進行石墨烯量子點的摻雜,依次制得氮摻雜的石墨烯量子點、磷摻雜的石墨烯量子點、硫摻雜的石墨烯量子點以及硼摻雜的石墨烯量子點;然后,用石墨烯量子點和摻雜的石墨烯量子點組成熒光探針陣列,記錄各種金屬離子引起的上述石墨烯量子點熒光強度的變化,用線性判別分析法來檢測區分金屬離子。
2.如權利要求1所述的基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:所述的石墨烯量子點的制備如下:將30-50mg氧化石墨烯粉末加入到30-50mL二次水中,放入超聲波清洗儀中超聲分散,再加入1-2mL過氧化氫,超聲分散均勻;將混合液轉移至反應釜中,密封后在180℃條件下反應60-90min;將反應液通過0.22μm的水系濾膜進行抽濾,收集濾液得到石墨烯量子點的水分散液,冷凍干燥。
3.如權利要求1所述的基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:所述的氮摻雜的石墨烯量子點的制備如下:將50mg石墨烯量子點加入到80-100mL二次水中,放入超聲波清洗儀中超聲分散10-15min;然后,將0.25-0.30g三聚氰胺加入到石墨烯量子點分散體系中,用玻璃棒攪拌直至出現明顯的沉降;用電熱套蒸干上述混合體系中的溶劑,真空干燥過夜,研成粉末;將粉末置于石英舟內,在750-800℃氬氣保護下熱解30-45min;然后用4-6mol/L HNO3進行回流,蒸干HNO3溶劑后,透析純化得到氮摻雜石墨烯量子點。
4.如權利要求1所述的基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:所述的磷摻雜的石墨烯量子點制備如下:將50mg石墨烯量子點與100-200mg三苯基磷和50-100mL乙醇混勻,室溫下攪拌;蒸發乙醇,將獲得的石墨烯量子點與三苯基磷混合物真空干燥過夜,研成粉末;將混合物粉末裝入石英舟中,750-800℃氬氣保護下熱解30-45min;然后用4-6mol/L HNO3進行回流,蒸干HNO3溶劑后,透析純化得到磷摻雜石墨烯量子點。
5.如權利要求1所述的基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:所述的硫摻雜的石墨烯量子點制備如下:將50mg石墨烯量子點與30-40mg二芐基二硫和50-100mL乙醇混合放入超聲波清洗儀中超聲分散10-15min;蒸發乙醇,得到石墨烯量子點與二硫苯混合物,真空干燥過夜,研成粉末。將混合物粉末裝入石英舟中,氬氣保護下750-800℃熱解30-45min;然后用4-6mol/L HNO3進行回流,蒸干HNO3溶劑后,透析純化得到硫摻雜石墨烯量子點。
6.如權利要求1所述的基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:所述的硼摻雜的石墨烯量子點制備如下:將50mg石墨烯量子點與30-50mg硼酸和40-60mL二次水混合放入超聲波清洗儀中超聲分散0.5-1h,混合均勻,真空干燥過夜,研成粉末。將混合物粉末裝入石英舟中,750-800℃氬氣保護下熱解30-45min;然后用4-6mol/LHNO3進行回流,蒸干HNO3溶劑后,透析純化得到硼摻雜石墨烯量子點。
7.如權利要求1所述的基于石墨烯量子點熒光探針陣列的金屬離子檢測方法,其特征在于:用石墨烯量子點作為熒光探針區分金屬離子:取50μL 500μg/mL石墨烯量子點溶液置于4ml離心管中,然后加入430μL二次水和20μL 2mmol/L不同金屬離子溶液,在室溫下平衡5min,在310nm波長光的激發下分別記錄石墨烯量子點、氮摻雜的石墨烯量子點、磷摻雜的石墨烯量子點、硫摻雜的石墨烯量子點以及硼摻雜的石墨烯量子點的熒光強度;每種金屬離子都平行測量6次,所得的數據用軟件SYSTAT 13.1進行線性判別分析。
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