[發明專利]過流保護方法、裝置和電子設備

有效

• 申請號: 202010573446.9
• 申請日: 2020-06-22
• 公開（公告）號: CN111668804B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 李權;郭宇婕
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: H02H3/08
• 分類號: H02H3/08
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

1.一種過流保護方法，包括：

獲得電子設備的采樣周期及與所述采樣周期對應的采樣方式；

至少基于所述采樣周期和與所述采樣周期對應的采樣方式確定采樣時刻，在確定的采樣時刻獲得電源輸出的電流值；

根據所述采樣周期內各采樣時刻獲得的電流值是否滿足過流保護條件，執行或不執行過流保護操作；

其中，所述采樣方式為所述采樣周期內相鄰兩采樣時刻的時間間隔不完全相同；

其中，所述至少基于所述采樣周期和與所述采樣周期對應的采樣方式確定采樣時刻，包括：

確定所述采樣周期的數值類型，至少基于所述采樣周期的數值類型確定對應的采樣方式，根據確定的采樣方式從所述采樣周期中確定采樣時刻；

或，

確定所述采樣周期的數值，根據所述數值所屬的數值范圍從預定采樣時刻集合中確定與所述采樣周期對應的采樣時刻。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，確定所述采樣周期的數值類型，至少基于所述采樣周期的數值類型確定對應的采樣方式，根據確定的采樣方式從所述采樣周期中確定采樣時刻，包括：

在確定所述采樣周期為質數的情況下，按照第一采樣方式將所述采樣周期中數值為質數的第一時刻確定為所述采樣時刻；且/或，

在確定所述采樣周期為合數的情況下，按照第二采樣方式將所述采樣周期中數值為合數的第二時刻確定為所述采樣時刻；

或，

在確定所述采樣周期為質數或合數的情況下，按照第三采樣方式將所述時間間隔為質數或合數時對應的第三時刻確定為所述采樣時刻。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，確定所述采樣周期的數值，根據所述數值所屬的數值范圍從預定采樣時刻集合中確定與所述采樣周期對應的采樣時刻，包括：

在確定所述采樣周期的數值處于第一數值范圍內的情況下，將所述預定采樣時刻集合中的第一采樣時刻集合內各采樣時刻確定為與所述采樣周期對應的采樣時刻；和/或，

在確定所述采樣周期的數值處于第二數值范圍內的情況下，將所述預定采樣時刻集合中的第二采樣時刻集合內各采樣時刻確定為與所述采樣周期對應的采樣時刻；

其中，采樣時刻集合中采樣時刻的個數與所述采樣周期的數值所處的數值范圍具有第一對應關系。

4.根據權利要求1所述的方法，所述采樣周期內相鄰兩采樣時刻的時間間隔不完全相同，包括：

所述采樣周期內相鄰兩采樣時刻的時間間隔均不相同；

或者，所述采樣周期內相同時長的時間間隔的占比小于第一閾值，所述時間間隔為相鄰兩采樣時刻之間的時長間隔。

5.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其中，所述采樣周期內相鄰兩采樣時刻的時間間隔按照確定的第四采樣方式增大或減小；且/或，

所述采樣周期內相鄰兩采樣時刻的時間間隔與顯卡的電流輸出頻率具有第二對應關系。

6.根據權利要求1所述的方法，所述根據所述采樣周期內各采樣時刻獲得的電流值是否滿足過流保護條件，執行或不執行過流保護操作，包括：

在所述采樣周期內各采樣時刻的電流值均達到電流閾值的情況下，執行過流保護操作；或，

在所述采樣周期內達到電流閾值的采樣時刻的個數大于第二閾值的情況下，執行過流保護操作。

7.根據權利要求1所述的方法，所述電子設備的采樣周期基于所述電子設備的處理器的處理任務量和/或處理能力確定。