[發(fā)明專利]濾波器高頻測試設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010573431.2 | 申請日: | 2020-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN111744826A | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬國強;翟振衛(wèi);王先權(quán);蘇相河;覃宗愛;張金鎖;王常輝;易志福 | 申請(專利權(quán))人: | 惠州攸特電子股份有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/344 | 分類號: | B07C5/344 |
| 代理公司: | 廣州市華學知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 梁睦宇 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 濾波器 高頻 測試 設(shè)備 | ||
本發(fā)明的濾波器高頻測試設(shè)備,設(shè)置有機架、上料機構(gòu)及測試機構(gòu);限位件的設(shè)置,使得濾波器能夠準確地停滯于滑料通道內(nèi)的預(yù)定位置上,從而確保沿預(yù)定軌跡移動的高頻測頭能夠準確地與濾波器的引腳相頂持,進而提高了濾波器高頻測試設(shè)備的高頻測試精度;安裝斜面的設(shè)置,使得濾波器能夠在自重的作用下從治具容置槽滑動至滑料通道內(nèi),并使得濾波器能夠在滑料通道內(nèi)沿預(yù)定軌跡滑動;安裝斜面與上料機構(gòu)的共同設(shè)置,使得濾波器不僅能夠沿預(yù)定軌跡滑動,還使得濾波器只能逐一滑動至滑料通道內(nèi)的預(yù)定測試位置上,從而免去了人工逐一對濾波器進行上料的繁瑣,還避免了還避免了測試人員被濾波器引腳劃傷,也避免了濾波器引腳因受力過大而意外折彎。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測試設(shè)備領(lǐng)域,特別是涉及一種濾波器高頻測試設(shè)備。
背景技術(shù)
濾波器是一種對信號有處理作用的器件或者電路,其主要作用是讓有用信號盡可能無衰減的通過,而對無用信號則盡可能大的衰減。在對濾波器的針腳進行整平后,還需要對濾波器進行檢測,以剔除不良品。
現(xiàn)今,制造商一般是使用濾波器高頻測試設(shè)備來對濾波器進行測試的,現(xiàn)有的濾波器高頻測試設(shè)備一般是由網(wǎng)絡(luò)分析儀和測試治具組成的,在實際測試過程中,測試人員會將待測濾波器放置于測試治具上,以使濾波器的各個針腳一一對應(yīng)與治具上的各個探針互相頂持,各個探針均與網(wǎng)絡(luò)分析儀上的測試通道連接,啟動網(wǎng)絡(luò)分析儀,隨后,網(wǎng)絡(luò)分析儀即會將濾波器的測試結(jié)果顯示在屏幕上,從而測試出不良品濾波器。
但是,現(xiàn)有的濾波器高頻測試設(shè)備在實際使用過程中,仍然存在以下的技術(shù)問題:
首先,在將濾波器放置于預(yù)定位置上進行測試時,很容易出現(xiàn)探針無法準確對準濾波器的引腳的情況,從而導致測試設(shè)備無法準確地對濾波器進行測試,高頻測試精度非常低;
其次,現(xiàn)有的濾波器高頻測試設(shè)備在實際使用過程中,需要測試人員逐一將濾波器放置于測試工位上,測試效率非常低;
同時,濾波器的針腳一般較為單薄且尖銳,在人工取放濾波器的過程中,針腳不僅很容易割傷測試人員的皮膚,還很容易因受力過大而發(fā)生意外折彎。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處,提供一種濾波器高頻測試設(shè)備,該濾波器高頻測試設(shè)備具有高頻測試精度高及測試效率高的優(yōu)點,同時,該濾波器高頻測試設(shè)備還能夠避免濾波器割傷測試人員,此外,該濾波器高頻測試設(shè)備還能夠防止引腳意外折彎。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的:
一種濾波器高頻測試設(shè)備,包括:
機架,所述機架上設(shè)置有安裝斜面;
上料機構(gòu),所述上料機構(gòu)包括料道及擋位件,所述料道設(shè)置于所述安裝斜面上,所述料道上開設(shè)有互相連通的治具容置槽及滑料通道,所述治具容置槽用于容置濾波器治具,所述擋位件能夠相對所述機架朝靠近或者遠離所述料道的方向移動,所述擋位件用于與濾波器互相頂持;及
測試機構(gòu),所述測試機構(gòu)包括高頻測頭及限位件,所述高頻測頭能夠相對所述機架滑動,所述高頻測頭用于與濾波器引腳互相頂持,所述限位件能夠相對所述機架朝靠近或者遠離所述料道的方向移動,以使所述限位件露置于所述滑料通道內(nèi)。
在其中一個實施例中,所述測試機構(gòu)還包括高壓測試氣缸、高壓測頭、定位氣缸及定位件,所述高壓測試氣缸設(shè)置于所述機架上,所述高壓測頭與所述高壓測試氣缸的伸縮軸連接,所述高壓測頭用于與濾波器引腳互相頂持,所述定位氣缸設(shè)置于所述機架上,所述定位氣缸用于驅(qū)動所述定位件朝靠近或者遠離所述機架的方向移動,以使所述定位件露置于所述滑料通道內(nèi),所述定位件用于與濾波器互相頂持。
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