[發(fā)明專利]輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法及終端

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010572240.4
• 申請(qǐng)日: 2020-06-22
• 公開（公告）號(hào): CN111881937A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 潘成龍;張宇;劉東劍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳金三立視頻科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06K9/62
• 分類號(hào): G06K9/62
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275
• 代理人: 井曉奇

1.一種輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，包括：

分別構(gòu)建輸電線路的目標(biāo)數(shù)據(jù)集和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集；

通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型；

根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型和目標(biāo)數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)檢測(cè)模型；

通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型；

根據(jù)所述目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)缺陷分類模型；

根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)模型和目標(biāo)缺陷分類模型對(duì)待檢測(cè)圖像依次進(jìn)行目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別分類。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述分別構(gòu)建輸電線路的目標(biāo)數(shù)據(jù)集和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集具體為：

獲取輸電線路的原始圖像；

對(duì)所述原始圖像中的目標(biāo)采用pascal voc數(shù)據(jù)集的格式進(jìn)行標(biāo)注，得到目標(biāo)數(shù)據(jù)集；

對(duì)所述原始圖像中的目標(biāo)按照缺陷類別分別放入不同的缺陷樣本庫(kù)中，得到目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型具體為：

搭建yolov3網(wǎng)絡(luò)，利用coco數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型和目標(biāo)數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)檢測(cè)模型具體為：

將所述目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型加載至yolov3網(wǎng)絡(luò)，利用目標(biāo)數(shù)據(jù)集訓(xùn)練yolov3網(wǎng)絡(luò)至收斂后得到目標(biāo)檢測(cè)模型。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型具體為：

搭建Inception V3網(wǎng)絡(luò)，利用imagenet數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)缺陷分類模型具體為：

將目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型加載至Inception V3網(wǎng)絡(luò)，利用目標(biāo)數(shù)據(jù)集訓(xùn)練Inception V3網(wǎng)絡(luò)至收斂得到目標(biāo)缺陷分類模型。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)模型和目標(biāo)缺陷分類模型對(duì)待檢測(cè)圖像依次進(jìn)行目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別分類具體為：

將待檢測(cè)圖像輸入至目標(biāo)檢測(cè)模型進(jìn)行目標(biāo)檢測(cè)，得到目標(biāo)圖像；

將與所述目標(biāo)圖像對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)圖像部分輸入至目標(biāo)缺陷分類模型進(jìn)行缺陷識(shí)別分類，得到缺陷識(shí)別分類結(jié)果。

8.一種輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別終端，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

分別構(gòu)建輸電線路的目標(biāo)數(shù)據(jù)集和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集；

通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型；

根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型和目標(biāo)數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)檢測(cè)模型；

通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型；

根據(jù)所述目標(biāo)缺陷預(yù)訓(xùn)練模型和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)缺陷分類模型；

根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)模型和目標(biāo)缺陷分類模型對(duì)待檢測(cè)圖像依次進(jìn)行目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別分類。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別終端，其特征在于，所述分別構(gòu)建輸電線路的目標(biāo)數(shù)據(jù)集和目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集具體為：

獲取輸電線路的原始圖像；

對(duì)所述原始圖像中的目標(biāo)采用pascal voc數(shù)據(jù)集的格式進(jìn)行標(biāo)注，得到目標(biāo)數(shù)據(jù)集；

對(duì)所述原始圖像中的目標(biāo)按照缺陷類別分別放入不同的缺陷樣本庫(kù)中，得到目標(biāo)缺陷數(shù)據(jù)集。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的輸電線路金具目標(biāo)檢測(cè)和缺陷識(shí)別終端，其特征在于，所述通過(guò)深度學(xué)習(xí)方法獲取目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型具體為：

搭建yolov3網(wǎng)絡(luò)，利用coco數(shù)據(jù)集訓(xùn)練得到目標(biāo)檢測(cè)預(yù)訓(xùn)練模型。