[發明專利]激光雷達點云陽光噪點去除方法及裝置

在審

• 申請號: 202010571646.0
• 申請日: 2020-06-19
• 公開（公告）號: CN111724323A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 彭怡龍;汪開理;楊晶;陳海佳;羅勝;何平;顏源
• 申請（專利權）人: 武漢海達數云技術有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T7/10
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 崔熠

1.一種激光雷達點云陽光噪點去除方法，其特征在于，包括：

識別激光雷達獲取的點云中的陽光噪點；

對識別的所述陽光噪點進行采樣；

根據所述陽光噪點的樣本集合中各點在預設坐標系中的豎直角和水平角，確定陽光噪點范圍；

根據所述陽光噪點范圍去除所述點云中的陽光噪點。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述點云按照預設掃描圈數依序劃分為多個點云塊，所述對識別的所述陽光噪點進行采樣，包括：

依次采樣各所述點云塊中識別的陽光噪點；

根據連續識別的所述點云塊分別對應的所述陽光噪點的樣本集合，判斷是否終止采樣。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述陽光噪點范圍去除所述點云中的陽光噪點，包括：

按照所述陽光噪點范圍，從被識別出包含陽光噪點樣本的首個所述點云塊的前一個點云塊開始，依序去除之后的所述點云塊中的陽光噪點。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對識別的所述陽光噪點進行采樣，包括：

按照掃描圈順序采樣預設掃描圈數內識別的陽光噪點。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述按照掃描圈順序采樣預設掃描圈數內識別的陽光噪點之后，所述方法還包括：

判斷所述陽光噪點的樣本數目是否滿足預設值；

若否，則按照掃描圈順序采樣下一預設掃描圈數內識別的陽光噪點，并重新判斷所述陽光噪點的樣本數目是否滿足預設值。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述陽光噪點的樣本集合中各點在預設坐標系中的豎直角和水平角，確定陽光噪點范圍之后，所述方法還包括：

清空所述樣本集合，并按照掃描圈順序采樣下一預設掃描圈數內識別的陽光噪點。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對識別的所述陽光噪點進行采樣之后，所述方法還包括：

對所述陽光噪點的樣本進行離群點過濾。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述陽光噪點的樣本集合中各點在預設坐標系中的豎直角和水平角，確定陽光噪點范圍，包括：

按照預設規則對所述陽光噪點的樣本集合中各點在預設坐標系中的豎直角和水平角，進行自適應擴大；

根據自適應擴大后的各點的豎直角和水平角確定所述陽光噪點范圍。

9.如權利要求1至8任一項所述的方法，其特征在于，識別激光雷達獲取的點云中的陽光噪點，包括：

獲取當前點、以及所述當前點在其所在掃描圈中的鄰域點分別在預設坐標系中的參數；

根據所述參數按照預設算法進行計算，若確定計算結果滿足預設條件則所述當前點為陽光噪點。

10.一種激光雷達點云陽光噪點去除裝置，其特征在于，包括：

識別模塊，用于識別激光雷達獲取的點云中的陽光噪點；

采樣模塊，用于對識別的所述陽光噪點進行采樣；

確定模塊，用于根據所述陽光噪點的樣本集合中各點在預設坐標系中的豎直角和水平角，確定陽光噪點范圍；

去噪模塊，用于根據所述陽光噪點范圍去除所述點云中的噪點。