[發(fā)明專利]非接觸式光學(xué)計(jì)米方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010568750.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111649679B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬浩洋;許根發(fā);范凱航 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 常州工圖視覺(jué)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/04 | 分類號(hào): | G01B11/04 |
| 代理公司: | 常州市權(quán)航專利代理有限公司 32280 | 代理人: | 趙慧 |
| 地址: | 213000 江蘇省常*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 接觸 光學(xué) 方法 裝置 | ||
1.一種非接觸式光學(xué)計(jì)米方法,其特征在于,包括:
照射被測(cè)物體表面,并通過(guò)顯微成像方法連續(xù)獲取被測(cè)物體表面的圖像;
計(jì)算相鄰兩張圖像之間的位移;
根據(jù)相鄰兩張圖像之間的位移,獲取被測(cè)物體在標(biāo)準(zhǔn)單位下的長(zhǎng)度;以及
獲取被測(cè)物體實(shí)時(shí)速度;
所述獲取被測(cè)物體在標(biāo)準(zhǔn)單位下的長(zhǎng)度方法中標(biāo)定系數(shù)Af的獲取方法包括:
根據(jù)成像裝置的視野長(zhǎng)度值L,視野像素?cái)?shù)P獲取標(biāo)定系數(shù)Af:
所述照射被測(cè)物體表面,并通過(guò)顯微成像方法連續(xù)獲取被測(cè)物體表面的圖像的方法包括:
通過(guò)光源照射被測(cè)物體表面,并設(shè)置成像裝置的相應(yīng)參數(shù),使成像裝置達(dá)到預(yù)設(shè)的光學(xué)分辨率,以獲取被測(cè)物體表面的特征點(diǎn),以及連續(xù)獲取被測(cè)物體表面的圖像;
所述計(jì)算相鄰兩張圖像之間的位移的方法包括:
設(shè)置觀察窗口,該觀察窗口中第一張被測(cè)物體表面的圖像中心點(diǎn)坐標(biāo)為(X0,Y0);
將觀察窗口的圖像與相鄰第二張圖像進(jìn)行比較,根據(jù)層數(shù)為2的金字塔模板匹配方法計(jì)算觀察窗口圖像在第二張圖像中的位置(X1,Y1);
第二張圖相對(duì)第一張圖的水平方向位移為X1-X0,豎直方向位移為Y1-Y0;
將第二張圖像加載到觀察窗口,以計(jì)算與下一張圖像之間的位移。
2.如權(quán)利要求1所述的非接觸式光學(xué)計(jì)米方法,其特征在于,
所述根據(jù)相鄰兩張圖像之間的位移,獲取被測(cè)物體在標(biāo)準(zhǔn)單位下的長(zhǎng)度的方法包括:
相鄰兩張圖像位移為Pox、Poy,Pox為水平方向位移,Poy為垂直方向位移;
根據(jù)勾股定理通過(guò)相鄰每?jī)蓮垐D像位移獲取斜邊長(zhǎng)度Si:
累加所有Si得到被測(cè)物位移總長(zhǎng),即被測(cè)物長(zhǎng)度Lp;
根據(jù)標(biāo)定系數(shù)Af將被測(cè)物長(zhǎng)度Lp轉(zhuǎn)換為預(yù)設(shè)單位,即被測(cè)物體在標(biāo)準(zhǔn)單位下的長(zhǎng)度。
3.如權(quán)利要求2所述的非接觸式光學(xué)計(jì)米方法,其特征在于,
所述獲取被測(cè)物體實(shí)時(shí)速度的方法包括:
記錄當(dāng)前時(shí)刻被測(cè)物體長(zhǎng)度L0;
記錄下一時(shí)刻被測(cè)物體長(zhǎng)度L1;
則被測(cè)物體實(shí)時(shí)速度為:
V=L1-L0。
4.一種非接觸式光學(xué)計(jì)米裝置,其特征在于,包括:
處理器模塊,以及與該處理器模塊電性連接的光源、成像機(jī)構(gòu)和顯示模塊;
所述光源適于照射被測(cè)物體表面;
所述成像機(jī)構(gòu)與被測(cè)物體表面垂直,以連續(xù)獲取被測(cè)物體表面的圖像;
所述處理器模塊適于根據(jù)被測(cè)物體表面的圖像獲取被測(cè)物體的長(zhǎng)度和被測(cè)物體的實(shí)時(shí)速度;
所述處理器模塊適于控制所述顯示模塊顯示被測(cè)物體的長(zhǎng)度和被測(cè)物體的實(shí)時(shí)速度;
所述控制模塊適于采用如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的非接觸式光學(xué)計(jì)米方法以獲取被測(cè)物體的長(zhǎng)度和被測(cè)物體的實(shí)時(shí)速度。
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