[發明專利]測試電路、測試方法和顯示裝置

在審

• 申請號: 202010567612.4
• 申請日: 2020-06-19
• 公開（公告）號: CN111599297A
• 公開（公告）日: 2020-08-28
• 發明（設計）人: 馬涌;張浩;田文紅;薛子姣;王曉靜;徐帥帥;韓楠;黃新杰
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;陳麗寧

1.一種測試電路，應用于顯示面板，所述顯示面板包括設置于顯示基板的周邊區域的柵極驅動模組和多行柵線；所述柵極驅動模組包括第一柵極驅動電路和第二柵極驅動電路，所述第一柵極驅動電路用于為偶數行柵線提供相應的柵極驅動信號，所述第二柵極驅動電路用于為奇數行柵線提供相應的柵極驅動信號，其特征在于，所述測試電路包括第一測試子電路和第二測試子電路；

所述第一測試子電路包括第一測試電極和多個第一測試單元電路，所述第二測試子電路包括第二測試電極和多個第二測試單元電路；

第n個第一測試單元電路包括第2n-1個第一測試控制單元和第2n個第一測試控制單元；第n個第二測試單元電路包括第2n-1個第二測試控制單元和第2n個第二測試控制單元；

第2n-1個第一測試控制單元用于在第一柵極驅動電路提供的第2n行柵極驅動信號的控制下，控制將第2n行柵極驅動信號寫入所述第一測試電極；

第2n個第一測試控制單元用于在第二柵極驅動電路提供的第2n+1行柵極驅動信號的控制下，控制所述第一測試電極與第一電壓端之間連通；

第2n-1個第二測試控制單元用于在第二柵極驅動電路提供的第2n-1行柵極驅動信號的控制下，控制將第2n-1行柵極驅動信號寫入第二測試電極；

第2n個第二測試控制單元用于在第一柵極驅動電路提供的第2n行柵極驅動信號的控制下，控制所述第二測試電極與所述第一電壓端之間連通；

n為正整數，2n+2小于或等于所述顯示面板包括的柵極的總行數。

2.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述顯示面板還包括電路板和陣列層；所述電路板貼設于所述顯示基板的側邊；

所述第一測試電極和所述第二測試電極設置于所述陣列層的單層區，或者，所述第一測試電極和所述第二測試電極設置于所述電路板上。

3.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，第2n-1個第一測試控制單元包括第2n-1個第一測試晶體管，所述第2n個第一測試控制單元包括第2n個第一測試晶體管；

所述第2n-1個第一測試晶體管的控制極和所述第2n-1個第一測試晶體管的第一極都與第一柵極驅動電路提供的第2n行柵極驅動信號輸出端電連接，所述第2n-1個第一測試晶體管的第二極與所述第一測試電極電連接；

所述第2n個第一測試晶體管的控制極與所述第二柵極驅動電路的第2n+1行柵極驅動信號輸出端電連接，所述第2n個第一測試晶體管的第一極與所述第一測試電極電連接，所述第2n個第一測試晶體管的第二極與所述第一電壓端電連接。

4.如權利要求3所述的測試電路，其特征在于，所述第2n-1個第一測試晶體管和第2n個第一測試晶體管都為n型晶體管；或者，所述第2n-1個第一測試晶體管和第2n個第一測試晶體管都為p型晶體管。

5.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，第2n-1個第二測試控制單元包括第2n-1個第二測試晶體管，第2n個第二測試控制單元包括第2n個第二測試晶體管；

所述第2n-1個第二測試晶體管的控制極和所述第2n-1個第二測試晶體管的第一極與第二柵極驅動電路的第2n-1行柵極驅動信號輸出端電連接，所述第2n-1個第二測試晶體管的第二極與所述第二測試電極電連接；

所述第2n個第二測試晶體管的控制極與所述第一柵極驅動電路的第2n行柵極驅動信號輸出端電連接，所述第2n個第二測試晶體管的第一極與所述第二測試電極電連接，所述第2n個第二測試晶體管的第二極與所述第一電壓端電連接。

6.如權利要求5所述的測試電路，其特征在于，所述第2n-1個第二測試晶體管和第2n個第二測試晶體管都為n型晶體管；或者，所述第2n-1個第二測試晶體管和第2n個第二測試晶體管都為p型晶體管。