[發明專利]高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器測試方法

在審

• 申請號: 202010566998.7
• 申請日: 2020-06-19
• 公開（公告）號: CN112100009A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 賈學強;李志;滿宏濤;熊子涵;丁微微
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 孫玉營

本發明提供一種高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器測試方法，所述SD卡模型包括：多類型參數物理層，所述多類型參數物理層配置有多種SD卡類型及各種SD卡類型對應的通信協議；功能參數描述層，所述功能參數描述層配置有多種SD卡類型對應的功能參數；參數切換模塊，所述參數切換模塊根據選定的目標SD卡類型調用相應通信協議和相應功能參數?？捎行岣吣Ｐ偷募嫒菪?、靈活性、仿真驗證覆蓋率和驗證效率。兼容各種SD卡類型和版本，僅需要修改參數即可達到測試不同SD卡的目的。此外，當SD卡版本更新時，代碼可方便擴展，以快速適應新版本SD卡的仿真測試。

技術領域

本發明大數據服務平臺技術領域，具體涉及一種高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器測試方法。

背景技術

SD卡作為一種具有安全性高、高性能、體積小巧、便攜及可熱插拔等優點的存儲設備，近年來成為電子產品廣泛采用的存儲擴展方式。隨著國內芯片設計技術的發展，針對SD卡的設計研究更加重視。驗證是保障芯片設計正確性，提高一次性流片成功率的關鍵，而SD卡模型作為SoC芯片設計驗證的重要組成部分，其作用為：1)模擬SD卡實體，可向SD卡控制器提供 SD卡相關基本信息，如容量，版本，工作電壓，支持速率等。2)作為從機，接收SD卡控制器命令，模擬完成SD卡初始化、數據讀寫等功能。3)驗證 SD卡控制器功能的正確性，以改進SD卡控制器設計。

隨著數字電路對于SD卡的容量、速度的更高要求，SD卡協議也隨之相應更新，SD卡控制器設計一般要求做到版本向下兼容，但目前的SD卡模型設計僅完成了針對某種特定協議的主要功能和時序的描述，存在兼容性不足，SD卡類型支持不夠靈活，速率模式切換、位寬切換等功能不足，不能有效定位SD卡控制器設計問題等缺點。

發明內容

針對現有技術的上述不足，本發明提供一種高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器測試方法，以解決上述技術問題。

第一方面，本發明提供一種高兼容SD卡模型，包括：

多類型參數物理層，所述多類型參數物理層配置有多種SD卡類型及各種SD卡類型對應的通信協議；

功能參數描述層，所述功能參數描述層配置有多種SD卡類型對應的功能參數；

參數切換模塊，所述參數切換模塊根據選定的目標SD卡類型調用相應通信協議和相應功能參數。

進一步的，所述功能參數包括速率參數項、數據位寬參數項、Partial 讀寫參數項、Misalign讀寫項和讀寫地址處理項。

進一步的，所述速率參數項包括高速狀態和低速狀態，所述高速狀態通過時鐘上升沿觸發，所述低速狀態通過時鐘下降沿觸發。

進一步的，所述SD卡模型還包括：

讀數據存儲模塊，所述讀數據存儲模塊包括多個數據塊，所述多個數據塊分別對應多種SD卡類型；所述多個數據塊均存儲讀測試數據，所述讀測試數據根據SD卡類型的特定存儲路徑保存至相應的數據塊。

進一步的，還包括：

測試記錄模塊，所述測試記錄模塊保存所述高兼容SD卡模型寫入的數據和生成的日志；所述測試記錄模塊的數據存儲路徑和日志存儲路徑均由測試代碼頂層根據SD卡類型指定。

第二方面，本發明提供一種基于高兼容SD卡模型的控制器測試方法，包括：

連接SD控制器和高兼容SD卡模型；

所述SD控制器選定測試SD卡類型并將所述測試SD卡類型發送至所述高兼容SD卡模型的參數切換模塊；

所述參數切換模塊根據所述測試SD卡類型從多類型參數物理層調用相應通信協議并從功能參數描述層調用相應功能參數，根據所述相應通信協議和相應功能參數將所述高兼容SD卡模型配置為所述測試SD卡類型；