[發明專利]調試卡以及調試裝置

在審

• 申請號: 202010566031.9
• 申請日: 2020-06-19
• 公開（公告）號: CN113820550A
• 公開（公告）日: 2021-12-21
• 發明（設計）人: 彭章龍
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（武漢）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/317
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 許春曉;陳敬華

一種調試卡以及調試裝置。調試卡與電子器件電性連接，用于測試電子器件的功能。調試卡可向電子器件發送測試請求信號，電子器件響應測試請求信號執行對應的程序并返回檢測數據給調試卡。調試卡包括連接器、電壓準位平移電路以及可編程邏輯芯片。連接器建立調試卡和電子器件之間的電性連接，以實現數據通信。電壓準位平移電路將檢測數據轉換為基于指定電壓準位的轉換數據。可編程邏輯芯片通過電壓準位平移電路與連接器電性連接，用于根據轉換數據對電子器件的對應功能進行分析并得到檢測結果。

技術領域

本發明涉及一種用于對電子器件的功能進行調試的調試卡以及調試裝置。

背景技術

隨著計算機技術的飛速發展，更新換代越來越快，計算機系統的研發周期也越來越短。在計算機主機板研發階段需要進行多種測試。在測試階段會遇到各種各樣的問題，研發人員需要借助debug card識別當前主板存在的問題。主板可通過不同類型的接口進行數據傳輸。常用的接口包括低引腳數(Low Pin Count,LPC)接口以及增強型串行外設(Enhanced Serial Peripheral Interface,eSPI)接口。不同接口對應的電壓準位不同，LPC接口的電壓準位為3.3V，而eSPI接口的電壓準位為1.8V。因此，由于主板的接口類型不同，分別需要具有兩種接口的debug card與對應的主板進行數據傳輸，進而造成測試成本的增加。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種調試裝置，旨在解決現有技術中在組裝過程中測試成本增加的問題。

一種調試裝置，與電子器件電性連接，用于測試所述電子器件的功能；所述調試卡可向所述電子器件發送測試請求信號，所述電子器件響應所述測試請求信號執行對應的程序并返回檢測數據給所述調試卡；所述調試卡包括：

連接器，用于建立所述調試卡和所述電子器件之間的電性連接，以實現數據通信；

電壓準位平移電路，用于將所述檢測數據轉換為基于指定電壓準位的轉換數據；

可編程邏輯芯片，通過所述電壓準位平移電路與所述連接器電性連接，用于根據所述轉換數據分析所述電子器件的對應功能并得到檢測結果。

一種所述調試裝置包括顯示模塊以及調試卡；所述調試卡與電子器件電性連接，用于測試所述電子器件的功能；所述調試卡可向所述電子器件發送測試請求信號，所述電子器件響應所述測試請求信號執行對應的程序并返回檢測數據給所述調試卡；所述調試卡包括：

連接器，用于建立所述調試卡和所述電子器件之間的電性連接，以實現數據通信；

電壓準位平移電路，用于將所述檢測數據轉換為基于指定電壓準位的轉換數據；

可編程邏輯芯片，通過所述電壓準位平移電路與所述連接器電性連接，用于根據所述轉換數據分析所述電子器件的對應功能并得到檢測結果。

上述調試卡以及調試裝置，通過設置電壓準位平移電路可實現基于不同電壓準位的連接器與可編程邏輯芯片之間的數據傳輸，降低測試成本，同時，提高調試卡以及調試裝置的適用范圍。

附圖說明

圖1為本發明較佳實施例之調試裝置的示意圖。

圖2為圖1中所述電壓準位平移電路的模塊示意圖。

圖3為圖2中所述平移單元的電路示意圖。

主要元件符號說明

調試裝置 100

電子器件 200

調試卡 10

顯示模塊 30