[發明專利]基于多通道光譜的色差儀及反射率測量方法有效
| 申請號: | 202010565284.4 | 申請日: | 2020-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN111707368B | 公開(公告)日: | 2023-10-17 |
| 發明(設計)人: | 袁琨;張陽;王堅 | 申請(專利權)人: | 中國計量大學 |
| 主分類號: | G01J3/46 | 分類號: | G01J3/46;G01J3/52;G01J3/02;G01J3/10;G01N21/47 |
| 代理公司: | 杭州浙科專利事務所(普通合伙) 33213 | 代理人: | 孫孟輝 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 通道 光譜 色差 反射率 測量方法 | ||
1.基于多通道光譜的色差儀,其特征在于包括主機(1)和校準盒(2),所述的主機(1)包括積分球(4)、光源(6)、主傳感器(10),所述的積分球(4)頂部一側設有探測孔(403),側面設有通光孔(401),底部設有測量口(402),探測孔(403)外側設置主傳感器(10),通光孔(401)外側設置光源(6),所述的校準盒(2)包括外殼(203)和設置在外殼(203)頂部的白板(201),白板(201)與測量口(402)對應配合,校準盒(2)與主機(1)配合連接,所述的傳感器是多通道光譜傳感器。
2.如權利要求1所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的通光孔(401)下端配合設置有擋光片(7)。
3.如權利要求1所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的探測孔(403)配合設置有光闌片(9)。
4.如權利要求1所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的光源(6)一側設有出光孔(5),出光孔(5)另一側設有輔傳感器(3)。
5.如權利要求1所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的主機(1)自上而下依次由上蓋(101)、導光光圈(103)、PCB板(104)、主體(105)配合構成,上蓋(101)內側設有的內螺紋(102)與導光光圈(103)外側設有的外螺紋(108)通過螺紋連接,導光光圈(103)設有的帶內螺紋的螺絲固定孔(109),通過連接螺絲(106)與主體(105)連接,PCB板(104)上設有指示光源。
6.如權利要求1所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的外殼(203)頂部設有臺階形凹口(202),臺階形凹口(202)底部設有白板(201),白板(201)周圍與主機(1)的頂部和底部分別設置相應的磁吸裝置,校準盒(2)通過臺階形凹口(202)與所述的主機(1)套接,并通過磁吸裝置磁吸固定。
7.如權利要求6所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于設置在所述的主機(1)底部的磁吸裝置是開口鐵環(8),所述的白板(201)周圍的磁吸裝置是磁鐵(208),開口鐵環(8)的開口處設置磁感應傳感器(11)。
8.如權利要求7所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的控制器采用自動磁感應校準,包括如下步驟:
S101,控制器等待磁感應傳感器(11)放入中斷;
S102,控制器感應到中斷放入,當最后校準時間與當前時間的差值大于間隔閾值時繼續S103,否則返回S101;
S103,當連續閾值內連續檢測到磁鐵(208)的存在時繼續S104,否則返回S101;
S104,多次校準測量,當校準過程未發生磁鐵(208)移動時繼續S105,否則返回S101;
S105,當每次校準測量之間的信號波動小于波動閾值時繼續S106,否則返回S101;
S106,將多次校準測量的平均值與之前最后校準的信號比較,當信號波動小于波動閾值時校準成功,保存多次校準測量的平均值及本輪最后一次校準測量時間,并返回S101,否則直接返回S101。
9.如權利要求6至8之一所述的基于多通道光譜的色差儀,其特征在于所述的外殼(203)自上而下配合設置有白板(201)、彈性裝置、按鍵(205),按鍵(205)頂部設有的觸手(209)與外殼(203)頂部開設的校準盒孔(210)、主機(1)頂部的測量按鍵(12)對應配合,按鍵(205)底部邊緣設有的凸出部(206)與外殼(203)底部的按鍵壓板(207)配合設置。
10.基于多通道光譜的反射率測量方法,其特征在于,包括如下步驟:
S201,主機(1)內置標準反射率與對應的多通道采樣數據:
使用主機(1)測量n個標準顏色,得到每個標準顏色的i個通道數據Sn,i,使用標準機器測量n個標準顏色,得到每個顏色的λ個反射率數據Tn,λ,并內置于主機(1);
S202,使用主機(1)測量被測樣品,得到多通道的目標顏色數據Ci;
S203,遍歷主機(1),找到與目標顏色數據最接近的標準顏色的通道數據Sn,i,計算目標顏色與標準顏色在每個通道下的差值:
dn,i=Sn,i-Ci
計算總差值:
根據總差值Dn的最小值得到位置m(m∈n),并記錄最小值對應的Sm,i和Tm,λ;
S204,將i通道目標顏色數據Ci計算為λ通道數據cλ,Ci為第i個通道數據,wi為第i個通道對應的波長,使用Ci和Wi計算cλ:
bi=Ci+1-ki*Wi+1
cλ=ki*λ+bi
S205,將i通道接近色Sm,i計算為λ通道數據sλ:
b′i=Sm,i+1-k′i*Wi+1
sλ=k′i*λ+b′i
S206,計算并輸出反射率:
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