[發(fā)明專利]一種USB OTG測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010564598.2
• 申請(qǐng)日: 2020-06-19
• 公開（公告）號(hào): CN113820583A
• 公開（公告）日: 2021-12-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 任科飛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京君正集成電路股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;H01L21/66
• 代理公司: 北京竹辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11706
• 代理人: 聶鵬

1.一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S1，將一個(gè)GPIO作為一個(gè)開關(guān)并配成輸出口，連接到待測(cè)芯片的兩根數(shù)據(jù)線與兩個(gè)USB連接器之間；

S2，所述兩個(gè)USB連接器分別連接PC機(jī)和U盤；

S3，通過程序模塊控制由GPIO輸出高低電平來決定開關(guān)打開的方向；

S4，通過GPIO的電平變化，所述開關(guān)打到第一位置連接到兩個(gè)USB連接器中連接PC機(jī)的一個(gè)；或是打到第二位置連接到兩個(gè)USB連接器中連接U盤的另一個(gè)，完成USB OTG測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，

所述的待測(cè)芯片的兩根數(shù)據(jù)線為USB_D+，USB_D-兩根差分線，將所述的USB_D+，USB_D-兩根差分線分別連接到所述開關(guān)，所述開關(guān)的另一端通過數(shù)據(jù)線分別與兩個(gè)USB連接器連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，所述的步驟S4進(jìn)一步包括以下步驟：

S4.1，當(dāng)所述開關(guān)打到第一位置時(shí)，待測(cè)芯片接到第一USB連接器，通過USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)連接，PC機(jī)做host，芯片做slave，測(cè)試芯片和PC通訊，驗(yàn)證芯片做為slave功能是否正常；

S4.2，當(dāng)所述開關(guān)打到第二位置時(shí)，待測(cè)芯片接到第二USB連接器，所述的待測(cè)芯片的兩根數(shù)據(jù)線USB_D+和USB_D-這兩根差分線接到第二USB連接器，U盤插入第二USB連接器，芯片做為host，U盤做為slave，測(cè)試芯片和U盤通訊，驗(yàn)證芯片做為host功能是否正常。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，所述的開關(guān)為單刀雙擲開關(guān)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟S3中所述開關(guān)打開的方向是通過控制單刀雙擲開關(guān)的切換方向確定的。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，所述的通過GPIO的電平變化，設(shè)置為低電平連接第一位置，高電平連接第二位置；或是高電平連接第一位置，低電平連接第二位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種USB OTG測(cè)試方法，其特征在于，所述的程序模塊是通過配置兩個(gè)寄存器實(shí)現(xiàn)GPIO電平變化的，這兩個(gè)寄存器分別是PAT1和PAT0，其中PAT1是0表示GPIO是輸出狀態(tài)，是1表示GPIO是輸入狀態(tài)，PAT0是0表示輸出低電平，是1表示輸出是高電平；USB測(cè)試，程序?qū)⒓拇嫫鱌AT1配置成0，PAT0配置成1，即將GPIO設(shè)成輸出高電平將開關(guān)打到第一位置；或者程序?qū)⒓拇嫫鱌AT1配置成0，PAT0配置成0，即將GPIO設(shè)成輸出低電平將開關(guān)打到第二位置。