[發(fā)明專利]一種用于數(shù)學(xué)吸波暗室構(gòu)建的多徑干擾抑制方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010564535.7 | 申請日: | 2020-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN111735996A | 公開(公告)日: | 2020-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張帥;呂政良;蘇堯;龔書喜;唐曉斌;周肖;宋子璇 | 申請(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué);中國電子科技集團(tuán)公司電子科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01R1/18 | 分類號: | G01R1/18 |
| 代理公司: | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 于金平 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 數(shù)學(xué) 暗室 構(gòu)建 干擾 抑制 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種用于數(shù)學(xué)吸波暗室構(gòu)建的多徑干擾抑制方法及裝置,本發(fā)明是基于空間位置場源貢獻(xiàn)分離理論的多徑干擾抑制,為實(shí)現(xiàn)無吸波材料環(huán)境下電磁輻射的高精度測量提供核心算法,并且本發(fā)明借助場源貢獻(xiàn)分離理論,可在不改變現(xiàn)有測試設(shè)備的條件下,消除外部測試環(huán)境不理想引起的多徑效應(yīng)影響,從而提高了電磁測量場測試精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電磁技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種用于數(shù)學(xué)吸波暗室構(gòu)建的多徑干擾抑制方法及裝置。
背景技術(shù)
對于大型系統(tǒng)級武器裝備而言,開展電磁測量(如大型雷達(dá)天線陣列測量、系統(tǒng)級電磁環(huán)境評估、預(yù)警機(jī)天線綜合布局測試、導(dǎo)彈制導(dǎo)雷達(dá)與彈罩一體化測量)對于高性能裝備研制至關(guān)重要。電磁測量相關(guān)測試環(huán)境可分為室內(nèi)測量和室外測量。室內(nèi)測量主要是通過微波暗室的結(jié)構(gòu)尺寸設(shè)計(jì),加之選取合適的吸波材料來實(shí)現(xiàn)電磁屏蔽,從而為電磁測量所需的靜區(qū)空間提供保障。室外測量是指在戶外條件下通過其他設(shè)計(jì)方法來消除地面及周圍環(huán)境反射,形成近似的自由空間測試場,主要類型有高架天線測試場、斜天線測試場、反射屏設(shè)計(jì)、地面反射測試場等。
針對室外測量,由于城市環(huán)境電磁環(huán)境惡劣,多徑效應(yīng)不可避免,收發(fā)信號更是常疊加其他用頻干擾,這些都會對輻射測量中方向圖主瓣和低副瓣等造成巨大測試誤差,散射測量更是無法開展。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種用于數(shù)學(xué)吸波暗室構(gòu)建的多徑干擾抑制方法及裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中的室外電磁測量無法消除多徑干擾的問題。
第一方面,本發(fā)明提供了一種用于數(shù)學(xué)吸波暗室構(gòu)建的多徑干擾抑制方法,該方法包括:獲取包含有多徑干擾的近場測量數(shù)據(jù),并對所述近場測量數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,得到受多徑干擾的遠(yuǎn)場數(shù)據(jù);對所述遠(yuǎn)場數(shù)據(jù)基于球面波展開,對空間不同位置場源產(chǎn)生的場建立球面波疊加表達(dá)式,根據(jù)球面波函數(shù)的特性進(jìn)行截?cái)啵⒔Y(jié)合坐標(biāo)變換對不同空間位置場源貢獻(xiàn)進(jìn)行分離,得到消除多徑干擾后的遠(yuǎn)場方向圖。
可選地,獲取包含有多徑干擾的近場測量數(shù)據(jù)之前,該方法還包括:確定多徑干擾項(xiàng)及誤差項(xiàng)。
可選地,確定多徑干擾項(xiàng)及誤差項(xiàng),包括:根據(jù)實(shí)測環(huán)境以及待測目標(biāo)的狀態(tài)參數(shù)確定多徑干擾項(xiàng),并計(jì)算分析有限掃描面截?cái)嗾`差、探頭位置誤差、系統(tǒng)相位誤差、混疊誤差以及近場幅相隨機(jī)誤差。
可選地,對所述近場測量數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,得到受多徑干擾的遠(yuǎn)場數(shù)據(jù),包括:將測量時(shí)的坐標(biāo)原點(diǎn)平移至待測目標(biāo)口徑中心,坐標(biāo)平移前的方向圖函數(shù)為坐標(biāo)原點(diǎn)為掃描面中心點(diǎn)o,坐標(biāo)平移后的方向圖函數(shù)為坐標(biāo)原點(diǎn)為天線口面中心點(diǎn)o1,為以點(diǎn)o為坐標(biāo)原點(diǎn)的相位方向圖,為單位向量:平移后的方向圖為:得到一個球面上的場強(qiáng)分布,其中,θ為電場矢量與z坐標(biāo)軸的夾角,為電場矢量在xoy面的投影與x坐標(biāo)軸的夾角,為由掃描面坐標(biāo)原點(diǎn)o至天線口面中心點(diǎn)o1的方向矢量,為單位向量,j為虛數(shù)單位,k為波數(shù)。
可選地,平移方向圖之后,得到一個球面上的場強(qiáng)分布之前,該方法還包括:對平移后的方向圖進(jìn)行補(bǔ)零操作。
可選地,對所述遠(yuǎn)場數(shù)據(jù)基于球面波展開,對空間不同位置場源產(chǎn)生的場建立球面波疊加表達(dá)式,根據(jù)球面波函數(shù)的特性進(jìn)行截?cái)啵⒔Y(jié)合坐標(biāo)變換對不同空間位置場源貢獻(xiàn)進(jìn)行分離,得到消除多徑干擾后的遠(yuǎn)場方向圖,包括:
對帶有多徑效應(yīng)影響的遠(yuǎn)場方向圖進(jìn)行球面波展開,展開表達(dá)式為:得到帶有多徑效應(yīng)影響的遠(yuǎn)場方向圖的球面波展開的模系數(shù)其中,
通過預(yù)設(shè)濾波函數(shù)濾除高階模式,保留模系數(shù)為得消除多徑效應(yīng)影響后的遠(yuǎn)場方向圖
其中,i為虛數(shù)單位,為球面波的TM波模式,s表示出射波,a表示入射波,N為球面波模式項(xiàng)數(shù),n和m為具體對應(yīng)的模式項(xiàng)標(biāo)記。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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