[發(fā)明專利]放大器測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010563680.3 | 申請日： | 2020-06-19 |
| 公開（公告）號： | CN111707893A | 公開（公告）日： | 2020-09-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 吳田;林楷輝;倪建興 | 申請（專利權(quán)）人： | 銳石創(chuàng)芯（深圳）科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R27/28;G01R23/16;G01R29/26 |
| 代理公司： | 深圳眾鼎匯成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44566 | 代理人： | 吳立 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市福田區(qū)園嶺街*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 放大器 測試 裝置 | ||
1.一種放大器測試裝置，其特征在于，包括測試模塊以及均與待測試放大器連接的控制終端和射頻開關(guān)；所述測試模塊連接所述射頻開關(guān)以及所述控制終端；所述射頻開關(guān)連接所述控制終端；所述測試模塊通過所述射頻開關(guān)構(gòu)建用于對所述待測試放大器進行測試的至少一組測試回路，一組測試回路包括一個觸發(fā)通道和一個測試通道；
所述控制終端用于：
在根據(jù)預(yù)設(shè)選取規(guī)則選取一組測試回路之后，控制所述射頻開關(guān)切換以連通被選取的所述測試回路的觸發(fā)通道，進而令所述待測試放大器通過所述觸發(fā)通道接收所述測試模塊發(fā)送的觸發(fā)信號，并根據(jù)所述觸發(fā)信號生成待測試信號；
控制所述射頻開關(guān)切換以連通被選取的所述測試回路的測試通道，進而令所述待測試放大器通過所述測試通道將所述待測試信號輸出至所述測試模塊；
控制所述測試模塊對所述待測試信號進行測試分析，接收所述測試模塊輸出的測試分析結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的放大器測試裝置，其特征在于，所述測試模塊包括頻譜分析模塊以及噪聲源模塊；所述頻譜分析模塊與所述射頻開關(guān)以及所述控制終端連接；所述噪聲源模塊連接在所述頻譜分析模塊以及所述射頻開關(guān)模塊之間；所述測試回路包括第一回路；所述第一回路包括由順次連接的所述頻譜分析模塊、所述噪聲源模塊和所述射頻開關(guān)構(gòu)建的第一觸發(fā)通道，以及由順次連接的所述射頻開關(guān)和所述頻譜分析模塊構(gòu)建的第一測試通道；
所述在根據(jù)預(yù)設(shè)選取規(guī)則選取一組測試回路之后，控制所述射頻開關(guān)切換以連通被選取的所述測試回路的觸發(fā)通道，進而令所述待測試放大器通過所述觸發(fā)通道接收所述測試模塊發(fā)送的觸發(fā)信號，并根據(jù)所述觸發(fā)信號生成待測試信號，包括：
在根據(jù)預(yù)設(shè)選取規(guī)則選取第一測試回路之后，控制所述頻譜分析模塊驅(qū)動所述噪聲源模塊生成噪聲信號；
控制所述射頻開關(guān)切換至所述噪聲源模塊，以令所述第一觸發(fā)通道連通；
令所述待測試放大器通過所述第一觸發(fā)通道接收所述噪聲源模塊發(fā)送的所述噪聲信號，并對所述噪聲信號進行放大；
所述控制所述射頻開關(guān)切換以連通被選取的所述測試回路的測試通道，進而令所述待測試放大器通過所述測試通道將所述待測試信號輸出至所述測試模塊，包括：
控制所述射頻開關(guān)切換至所述頻譜分析模塊，以令所述第一測試通道連通；
令所述待測試放大器通過所述第一測試通道將放大后的噪聲信號輸出至所述頻譜分析模塊；
所述控制所述測試模塊對所述待測試信號進行測試分析，接收所述測試模塊輸出的測試分析結(jié)果，包括：
控制所述頻譜分析模塊對放大后的噪聲信號進行測試分析，接收所述頻譜分析模塊輸出的第一測試分析結(jié)果。
3.如權(quán)利要求2所述的放大器測試裝置，其特征在于，所述測試模塊還包括信號產(chǎn)生模塊；所述控制終端和所述射頻開關(guān)均連接所述信號產(chǎn)生模塊；所述測試回路包括第二回路；所述第二回路包括由順次連接的所述信號產(chǎn)生模塊以及所述射頻開關(guān)構(gòu)建的第二觸發(fā)通道，以及由順次連接的所述射頻開關(guān)和所述頻譜分析模塊構(gòu)建的第二測試通道；
所述在根據(jù)預(yù)設(shè)選取規(guī)則選取一組測試回路之后，控制所述射頻開關(guān)切換并連通被選取的所述測試回路的觸發(fā)通道，以令所述待測試放大器通過所述觸發(fā)通道接收所述測試模塊發(fā)送的觸發(fā)信號，并根據(jù)所述觸發(fā)信號生成待測試信號，包括：
在根據(jù)預(yù)設(shè)選取規(guī)則選取第二測試回路之后，控制所述射頻開關(guān)切換至所述信號產(chǎn)生模塊，以令所述第二觸發(fā)通道連通；
令所述待測試放大器通過所述第二觸發(fā)通道接收所述信號產(chǎn)生模塊發(fā)送的射頻信號，并根據(jù)所述射頻信號生成第一待測試信號；
所述控制所述射頻開關(guān)切換并連通被選取的所述測試回路的測試通道，以令所述測試放大器通過所述測試通道將所述待測試信號輸出至所述測試模塊，包括：
控制所述射頻開關(guān)切換至所述頻譜分析模塊，以令所述第二測試通道連通；
令所述待測試放大器通過所述第二測試通道將所述第一待測試信號輸出至處于準(zhǔn)備測試狀態(tài)的所述頻譜分析模塊；
所述控制所述測試模塊對所述待測試信號進行測試分析，接收所述測試模塊輸出的測試分析結(jié)果，包括：
控制所述頻譜分析模塊對所述第一待測試信號進行測試分析，接收所述頻譜分析模塊輸出的第二測試分析結(jié)果。
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