[發(fā)明專利]一種納米流體穩(wěn)定性監(jiān)測系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010563642.8 | 申請日: | 2020-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN111829924A | 公開(公告)日: | 2020-10-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 鄒全樂;張?zhí)煺\;冉啟燦;陳子涵;劉涵;張碧川;蘇二磊;王智民;宋遙;吳斐 | 申請(專利權)人: | 重慶大學 |
| 主分類號: | G01N11/14 | 分類號: | G01N11/14;G01N13/02;G01N15/00;G01N15/04;G01N21/33;G01N21/84 |
| 代理公司: | 重慶縉云專利代理事務所(特殊普通合伙) 50237 | 代理人: | 王翔;馬健 |
| 地址: | 400044 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 納米 流體 穩(wěn)定性 監(jiān)測 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種納米流體穩(wěn)定性監(jiān)測系統(tǒng),其特征在于:包括布置在裝置外殼(12)內(nèi)腔中的樣品盛放系統(tǒng)、吸光度測試系統(tǒng)、黏度測試系統(tǒng)、表面張力測試系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);
所述樣品盛放系統(tǒng)包括旋轉(zhuǎn)平臺(4)和可視化樣品室(5);所述可視化樣品室(5)放置在旋轉(zhuǎn)平臺(4)上;所述可視化樣品室(5)內(nèi)盛放有待監(jiān)測納米流體;
所述吸光度測試系統(tǒng)包括分別布置在可視化樣品室(5)兩側(cè)的光源組件和探測器(11);所述光源組件包括光源(1)和單色儀(2);所述單色儀(2)對光源(1)發(fā)出的紫外光進行篩選后成為測試光;所述測試光穿過待監(jiān)測納米流體后進入探測器(11)的采光口;
所述黏度測試系統(tǒng)包括旋轉(zhuǎn)粘度計(7)和升降支撐立桿(8);所述升降支撐立桿(8)上端與裝置外殼(12)連接,下端與旋轉(zhuǎn)粘度計(7)連接;所述旋轉(zhuǎn)粘度計(7)包括測試轉(zhuǎn)子(701)、驅(qū)動測試轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的電機(702)以及扭力測試儀(703);所述測試轉(zhuǎn)子(701)伸入待監(jiān)測納米流體中;所述扭力測試儀(703)設置在測試轉(zhuǎn)子(701)外沿測試轉(zhuǎn)矩;
所述表面張力測試系統(tǒng)包括金屬圓環(huán)(10)和懸吊鐵絲(9);所述懸吊鐵絲(9)末端連接力敏傳感器;所述力敏傳感器連接金屬圓環(huán)(10);所述金屬圓環(huán)(10)通過懸吊鐵絲(9)懸吊在可視化樣品室(5)上方;
所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)包括觀測相機(3)、溫度檢測器(6)和數(shù)據(jù)采集控制器(13);所述溫度檢測器(6)布設在可視化樣品室(5)的底部;所述觀測相機(3)布置在可視化樣品室(5)外側(cè);所述數(shù)據(jù)采集控制器(13)包括PLC控制模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、中央處理模塊和顯示模塊;所述光源(1)、單色儀(2)、觀測相機(3)、旋轉(zhuǎn)平臺(4)和電機均與PLC控制模塊電性連接;所述觀測相機(3)、溫度檢測器(6)、探測器(11)、扭力測試儀和力敏傳感器均與數(shù)據(jù)采集模塊電性連接;
工作時,所述PLC控制模塊控制光源(1)的光強、單色儀(2)的紫外光波長、旋轉(zhuǎn)平臺(4)的旋轉(zhuǎn)速率和電機的旋轉(zhuǎn)速率;所述觀測相機(3)對待監(jiān)測納米流體進行實時拍照;所述溫度檢測器(6)對待監(jiān)測納米流體進行溫度監(jiān)測;所述數(shù)據(jù)采集模塊采集觀測相機(3)的圖像以及溫度檢測器(6)、探測器(11)、扭力測試儀和力敏傳感器的采集的數(shù)據(jù);所述中央處理模塊結(jié)合沉淀觀測、吸光度、黏度和表面張力的分析結(jié)果評價納米流體的穩(wěn)定性;所述顯示模塊顯示納米流體的穩(wěn)定性表征數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種納米流體穩(wěn)定性監(jiān)測系統(tǒng),其特征在于:所述裝置外殼(12)包括一側(cè)為敞口的柜體(1201);所述柜體(1201)敞口的一側(cè)轉(zhuǎn)動連接有柜門(1202)。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種納米流體穩(wěn)定性監(jiān)測系統(tǒng),其特征在于:所述可視化樣品室(5)為透明桶體;所述桶體的上端敞口被密封蓋(14)封堵;所述密封蓋(14)上開設有供轉(zhuǎn)子(7)和金屬圓環(huán)(10)穿過的米字型孔隙。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種納米流體穩(wěn)定性監(jiān)測系統(tǒng),其特征在于:所述裝置外殼(12)外壁上設置有石棉。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種納米流體穩(wěn)定性監(jiān)測系統(tǒng),其特征在于:所述金屬圓環(huán)(10)為鉑金圓環(huán)。
6.一種采用權利要求1所述監(jiān)測系統(tǒng)的監(jiān)測方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)將制備好的納米流體倒入可視化樣品室(5)內(nèi);
2)通過數(shù)據(jù)采集控制器(13)打開溫度檢測器(6),保持對可視化樣品室(5)內(nèi)納米流體溫度的檢測;
3)通過數(shù)據(jù)采集控制器(13)打開光源(1)與觀測相機(3),保持對可視化樣品室(5)內(nèi)納米流體體系的實時檢測;待樣品室靜置3min后,設置觀測相機(3)對納米流體進行三次拍照;
4)打開單色儀(2)與探測器(11),設置單色儀透過紫外光的波長與入射光強度,使紫外光透過可視化樣品室(5)投射在探測器(11)上,通過數(shù)據(jù)采集控制器(13)記錄下探測器(11)所收集的透射光強度;
5)關閉光源(1)、單色儀(2)、觀測相機(3)和探測器(11);進行表面張力數(shù)據(jù)采集;
6)進行黏度數(shù)據(jù)的采集;
7)靜置預定時間后,依次重復步驟3)~6);
8)結(jié)合拍照記錄與采集數(shù)據(jù)進行納米流體穩(wěn)定性分析。
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