[發明專利]一種測定泥頁巖巖石有效孔隙度的方法及裝置有效
| 申請號: | 202010562737.8 | 申請日: | 2020-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN111650108B | 公開(公告)日: | 2022-12-16 |
| 發明(設計)人: | 曲斌;劉世超;武曉鵬 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司;大慶油田有限責任公司 |
| 主分類號: | G01N15/08 | 分類號: | G01N15/08;G01N5/02;G01N9/36 |
| 代理公司: | 大慶知文知識產權代理有限公司 23115 | 代理人: | 楊英健 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測定 頁巖 巖石 有效 孔隙 方法 裝置 | ||
1.一種測定泥頁巖巖石有效孔隙度的方法,其特征在于,包括:
獲取被測泥頁巖巖石的總體積、所述被測泥頁巖巖石的骨架體積以及所述被測泥頁巖巖石內的顆粒以及/或粉塵的體積;其中,確定所述被測泥頁巖巖石總體積的測定方法,包括:
所述被測泥頁巖巖石在總體積測定前不進行除油除濕處理,所述測定方法的過程中所述被測泥頁巖巖石采用不加壓、不抽真空的自吸飽和方式飽和所述被測泥頁巖巖石;
在所述被測泥頁巖巖石自吸飽和過程中,在設定時間內測定所述被測泥頁巖巖石在飽和介質中的質量以及飽有飽和介質的所述被測泥頁巖巖石的質量;
根據所述被測泥頁巖巖石在飽和介質的質量、被測泥頁巖巖石飽有飽和介質的質量以及所述飽和介質的密度得到所述被測泥頁巖巖石的總體積;
確定吸潮介質的體積;其中,所述確定吸潮介質的體積的方法,包括:
確定所述被測泥頁巖巖石不含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量以及所述被測泥頁巖巖石吸潮后的質量;
根據所述干樣品質量、吸潮后的質量以及吸潮介質的密度,確定吸潮介質的體積;
其中,所述被測泥頁巖巖石吸潮后的質量為所述被測泥頁巖巖石在空氣中吸水后的質量;
利用所述吸潮介質的體積對所述骨架體積進行校正,得到骨架校正體積;其中,所述利用所述吸潮介質的體積對所述骨架體積進行校正,得到骨架校正體積的方法,包括: 所述骨架體積減去所述吸潮介質的體積得到所述骨架校正體積;
根據所述總體積、所述骨架校正體積以及顆粒以及/或粉塵的體積得到所述被測泥頁巖巖石的有效孔隙度;其中,所述根據所述總體積、所述骨架校正體積以及顆粒以及/或粉塵的體積得到所述被測泥頁巖巖石的有效孔隙度的方法,包括:
根據所述總體積以及所述骨架校正體積確定孔隙體積;
根據所述孔隙體積以及所述總體積得到所述被測泥頁巖巖石的有效孔隙度;
其中,所述吸潮介質為所述被測泥頁巖巖石在測試過程中吸收的水介質。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,確定所述被測泥頁巖巖石內的顆粒以及/或粉塵的體積,其方法,包括:
確定所述被測泥頁巖巖石不含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量以及所述被測泥頁巖巖石含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量;
根據所述被測泥頁巖巖石不含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量以及所述骨架校正得到所述被測泥頁巖巖石的骨架密度;
根據所述被測泥頁巖巖石不含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量、所述被測泥頁巖巖石含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量以及所述骨架密度得到所述被測泥頁巖巖石內的顆粒以及/或粉塵的體積。
3.根據權利要求1-2任一項所述的方法,其特征在于,所述被測泥頁巖巖石不含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量及所述被測泥頁巖巖石吸潮后的質量分別為所述被測泥頁巖巖石除油后不含顆粒以及/或粉塵的干樣品質量以及所述被測泥頁巖巖石除油吸潮后的質量。
4.一種測定泥頁巖巖石有效孔隙度的裝置,其特征在于,包括:處理器;
用于存儲處理器可執行指令的存儲器;
其中,所述處理器被配置為調用所述存儲器存儲的指令,以執行權利要求1至3中任意一項所述的方法。
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