[發(fā)明專利]接收器、激光測距設(shè)備及點(diǎn)云圖像生成方法

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• 申請日: 2020-06-18
• 公開（公告）號: CN113820689A
• 公開（公告）日: 2021-12-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杜奔;丁云;安凱
• 申請（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481;G01S7/486;G01S17/08;G01S17/89;G01S17/931
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 陳文香;劉芳

1.一種接收器，其特征在于，包括：接收光學(xué)模組、背景光測量模組、處理器、偏置電壓源、第一探測器和第一互阻放大器TIA，其中：

所述接收光學(xué)模組，用于將目標(biāo)對象反射的返回光分束為第一路光和第二路光，所述返回光包括信號光和背景光；

所述背景光測量模組，用于接收所述第一路光，并輸出所述第一路光中的背景光的第一電壓；

所述處理器，用于根據(jù)所述第一電壓，確定所述第一探測器的偏置電壓；

所述偏置電壓源，用于向所述第一探測器提供所述偏置電壓；

所述第一探測器，用于接收所述第二路光，在所述偏置電壓的作用下將所述第二路光轉(zhuǎn)換為第一電流；

所述第一TIA，用于將所述第一電流轉(zhuǎn)換為第二電壓；

所述處理器，還用于根據(jù)所述第二電壓生成所述目標(biāo)對象的點(diǎn)云圖像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接收器，其特征在于，所述背景光測量模組包括：平衡探測器和去耦模組，所述平衡探測器包含第二探測器、第三探測器和第二TIA，其中，

所述第二探測器，用于接收所述第一路光并輸出第二電流，所述第二電流包括所述第二探測器產(chǎn)生的第一暗電流和所述第二探測器對所述第一路光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換得到的第三電流，所述第三電流包括直流電流和交流電流，所述直流電流是所述第一路光中的背景光對應(yīng)的電流，所述交流電流是所述第一路光中的信號光對應(yīng)的電流；

所述第三探測器，用于輸出第二暗電流，所述第二暗電流與所述第一暗電流大小相同且方向相反；

所述去耦模組，用于接收所述第二電流和所述第二暗電流，根據(jù)所述第二電流和所述第二暗電流得到所述第三電流，從所述第三電流中濾除所述交流電流以得到所述直流電流；

所述第二TIA，用于將所述直流電流轉(zhuǎn)換為所述第一電壓，并將所述第一電壓輸出給所述處理器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的接收器，其特征在于，還包括：

第一匯聚透鏡，用于將所述第一路光匯聚至所述第二探測器；

第二匯聚透鏡，用于將所述第二路光匯聚至所述第一探測器。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的接收器，其特征在于，還包括：

第一底座，用于固定所述第二探測器和所述第三探測器，所述第二探測器的背面電極與所述第一底座的第一電極耦合，所述第二探測器正面電極與所述第一底座的第二電極耦合，所述第三探測器的背面電極與所述第一底座的第二電極耦合，所述第三探測器正面電極與所述第一底座的第一電極耦合；

其中，所述第一電極是接地電極，所述第二電極與所述第二TIA的輸入端耦合；或者，所述第一電極與所述第二TIA的輸入端耦合，所述第二電極是接地電極。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的接收器，其特征在于，還包括：

印刷電路板PCB，用于固定所述第二TIA和所述去耦模組；

第二底座，所述第二底座與所述第一底座垂直，用于固定所述第一探測器，所述第一探測器的背面電極與所述第二底座的第三電極耦合，所述第一探測器的正面電極與所述第二底座的第四電極耦合，其中，所述第三電極與所述第一TIA的輸入端耦合，所述第四電極與所述偏置電壓源的輸出端耦合；或者，所述第三電極與所述偏置電壓源的輸出端耦合，所述第四電極與所述第一TIA的輸入端耦合。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的接收器，其特征在于，

所述接收光學(xué)模組、所述第一探測器、所述第一TIA、所述背景光測量模組、所述第一匯聚透鏡、所述第二匯聚透鏡、所述第一底座、所述第二底座和所述PCB封裝成第一模塊；

所述第一模塊包括第一接口，所述第一探測器和所述偏置電壓源通過所述第一接口耦合，所述第二TIA的輸出端與所述處理器通過所述第一接口耦合。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的接收器，其特征在于，還包括：反射鏡、第一匯聚透鏡和第二匯聚透鏡；

所述反射鏡，用于將所述第一路光反射至所述第一匯聚透鏡；

所述第一匯聚透鏡，用于將所述第一路光匯聚至所述第二探測器；

所述第二匯聚透鏡，用于將所述第二路光匯聚至所述第一探測器。