[發明專利]軟件多故障解耦及并行定位方法及裝置

在審

• 申請號: 202010559375.7
• 申請日: 2020-06-18
• 公開（公告）號: CN111831556A
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 孔璐;王彬;張弛;楊雅雯;周珊
• 申請（專利權）人: 中國科學院空間應用工程與技術中心
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 馮瑛琪

1.一種軟件多故障解耦及并行定位方法，其特征在于，包括：

步驟1，通過待測試程序運行測試用例集，得到每個測試用例的測試結果，并獲取所述測試用例集在所述待測試程序上的覆蓋頻次信息；

步驟2，根據所述測試結果和所述覆蓋頻次信息確定覆蓋所述待測試程序的失敗測試用例集和成功測試用例集；

步驟3，根據失敗測試用例對所述待測試程序中全部程序實體的覆蓋頻次，對所述失敗測試用例集中的失敗測試用例進行聚類，構造失敗測試用例子集簇；

步驟4，將得到的每個失敗測試用例子集簇分別與所述成功測試用例集中的成功測試用例進行組合，得到測試用例子集；

步驟5，根據懷疑度公式計算每個測試用例子集的懷疑度并排序，按照懷疑度的順序檢查對應程序實體的代碼，定位缺陷。

2.根據權利要求1所述的軟件多故障解耦及并行定位方法，其特征在于，通過待測試程序運行測試用例集之前，還包括：

對待測試程序進行插裝，將所述待測試程序的源碼經過編譯預處理，生成可執行文件。

3.根據權利要求1所述的軟件多故障解耦及并行定位方法，其特征在于，獲取所述測試用例集在所述待測試程序上的覆蓋頻次信息，具體包括：

獲取所述待測試程序在運行所述測試用例集時的動態執行信息；

根據所述動態執行信息構造第一頻譜矩陣和第二頻譜矩陣，其中，所述第一頻譜矩陣中的元素表示每個測試用例是否覆蓋每個程序實體，所述第二頻譜矩陣中的元素表示每個程序實體被每個測試用例覆蓋的次數。

4.根據權利要求1所述的軟件多故障解耦及并行定位方法，其特征在于，根據失敗測試用例對所述待測試程序中全部程序實體的覆蓋頻次，對所述失敗測試用例集中的失敗測試用例進行聚類之前，還包括：

通過Z-score標準化方法對所述失敗測試用例的覆蓋頻次進行數據標準化處理。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的軟件多故障解耦及并行定位方法，其特征在于，步驟3具體包括：

步驟31，從所述失敗測試用例集中選擇預設數量的失敗測試用例作為初始簇中心；

步驟32，計算所述失敗測試用例集中剩余的失敗測試用例與每個所述初始簇中心的歐式距離，根據所述歐式距離將所述剩余的失敗測試用例劃分到對應的測試用例簇中；

步驟33，重新計算每個測試用例簇中的失敗測試用例覆蓋頻次的平均值，將所述平均值作為新的簇中心，根據所述新的簇中心計算每個所述測試用例簇的總方差；

步驟34，重復步驟32和步驟33，直到每個所述測試用例簇的總方差不再發生變化，此時得到的失敗測試用例子集簇為最終聚類結果。

6.根據權利要求5所述的軟件多故障解耦及并行定位方法，其特征在于，步驟31具體包括：

步驟311，按照預設規則從所述失敗測試用例集中選擇一個基準失敗測試用例；

步驟312，計算所述失敗測試用例集中剩余失敗測試用例與所述基準失敗測試用例之間的歐式距離；

步驟313，根據所述歐式距離計算所述剩余失敗測試用例與所述基準失敗測試用例之間的平均距離；

步驟314，根據所述歐式距離和所述平均距離確定所述基準失敗測試用例的臨近點的數量；

步驟315，從所述失敗測試用例集除所述基準失敗測試用例之外的剩余失敗測試用例中繼續選擇新的基準失敗用例，重復步驟311至步驟315，直到得到所述失敗測試用例集中全部失敗測試用例的臨近點的數量；

步驟316，將所述失敗測試用例集中全部失敗測試用例依據所述臨近點的數量進行排序，從所述失敗測試用例集中取出臨近點的數量最多的失敗測試用例作為初始簇中心，并從所述失敗測試用例集中取出臨近點的數量最少的失敗測試用例作為初始簇中心；

步驟317，重復步驟316，直到所述初始簇中心的數量達到預設數量。