[發明專利]自電容數據的處理方法及裝置

在審

• 申請號: 202010557122.6
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111708457A
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 曲少凡;姜鵬
• 申請（專利權）人: 北京集創北方科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 鐘揚飛

1.一種自電容數據的處理方法，其特征在于，包括：

獲取每一方向電極對應的自電容容值變化量和互電容容值變化量；

針對每一方向電極對應的自電容容值變化量，根據所述方向電極對應的互電容容值變化量，對所述方向電極對應的自電容容值變化量進行歸一化，得到每一自電容容值變化量對應的歸一化結果；

利用處于指定范圍內的歸一化結果進行觸點的定位。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述方向電極對應的互電容容值變化量，對所述方向電極對應的自電容容值變化量進行歸一化，包括：

從所述方向電極對應的所有互電容容值變化量中篩選出大于第一閾值的互電容容值變化量；

對篩選出的互電容容值變化量進行加和，得到容值變化累加值；

根據已知的互電容容值變化最大值以及所述容值變化累加值，對所述方向電極對應的自電容容值變化量進行歸一化。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據已知的互電容容值變化最大值以及所述容值變化累加值，對所述方向電極對應的自電容容值變化量進行歸一化，采用以下公式：

ScRXAdj_n＝ScRx_n×McMax/RxMcSum

其中，ScRXAdj_n表示歸一化結果，ScRx_n表示自電容容值變化量，McMax表示互電容容值變化最大值，RxMcSum表示容值變化累加值。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，對所述方向電極對應的自電容容值變化量進行歸一化之前，所述方法還包括：

獲取每個檢測點的互電容數據；

針對每個檢測點，將所述檢測點的互電容數據與基準電容進行比較，獲得每個檢測點的容值變化量；

遍歷每個檢測點的容值變化量，得到所述互電容容值變化最大值。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，從所述方向電極對應的所有互電容容值變化量中篩選出大于第一閾值的互電容容值變化量之前，所述方法還包括：

根據所述互電容容值變化最大值，確定所述第一閾值。

6.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用處于指定范圍內的歸一化結果進行觸點的定位之前，所述方法還包括：

根據所述互電容容值變化最大值，生成所述指定范圍。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用處于指定范圍內的歸一化結果進行觸點的定位，包括：

保留處于指定范圍內的歸一化結果，并將不處于指定范圍內的歸一化結果置為零；

利用所述歸一化結果替換對應的所述自電容容值變化量，進行觸點的定位。

8.一種自電容數據的處理裝置，其特征在于，包括：

數據獲取模塊，用于獲取每一方向電極對應的自電容容值變化量和互電容容值變化量；

歸一化模塊，用于針對每一方向電極對應的自電容容值變化量，根據所述方向電極對應的互電容容值變化量，對所述方向電極對應的自電容容值變化量進行歸一化，得到每一自電容容值變化量對應的歸一化結果；

數據篩選模塊，用于利用處于指定范圍內的歸一化結果進行觸點的定位。

9.一種觸控芯片，其特征在于，所述觸控芯片包括：

處理器；

用于存儲處理器可執行指令的存儲器；

其中，所述處理器被配置為執行權利要求1-7任意一項所述的自電容數據的處理方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序可由處理器執行以完成權利要求1-7任意一項所述的自電容數據的處理方法。