[發明專利]一種評價玻璃配合料均勻度的方法

在審

• 申請號: 202010556366.2
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111707514A
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 蔡禮貌;孫雪峰;何智鋼;韓正偉;李彥濤
• 申請（專利權）人: 河北視窗玻璃有限公司;中國南玻集團股份有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N1/38;G01N31/16
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 鞏克棟

本發明提供了一種評價玻璃配合料均勻度的方法，所述方法包括如下步驟：(1)取玻璃配合料樣品10?20份，分別將各份玻璃配合料進行研磨，得到10?20份研磨料；(2)使用鹽酸分別溶解步驟(1)所得各份研磨料，對溶解液進行過濾，得到濾液；(3)分別測定步驟(2)所得各份濾液中MgO含量，并由所得MgO含量計算均勻度。所述方法在取樣10?20份的情況下就能夠實現對玻璃配合料均勻度的準確測量，且由于玻璃配合料尤其是蓋板玻璃配合料中MgO的含量較低，以MgO含量作為均勻度測試標準提高了均勻度測試的準確性。所述方法操作簡單便捷，實現了對玻璃配合料均勻度的快速評價。

技術領域

本發明屬于玻璃制備技術領域，涉及一種玻璃配合料均勻度的方法，尤其涉及一種評價玻璃配合料均勻度的方法。

背景技術

玻璃配合料是不同物料混合的產物，物料混合過程的本質是減少或者消除兩種或者多種粉體之間的差異。這種差異是多方面的且是同時存在的，比如化學成分、密度、顆粒度、物質濃度以及混合時間等等。物料之間的差異越大，物料越不容易進行混合。因此，玻璃工業中混合的主要目的是消除不同物料間化學成分的差異，以便于熔制過程中化學反應的均勻進行。通過混料機進行機械混合所得到的玻璃配合料中仍然存在著差異，而均勻度便是對這種差異的度量。

由楊倫發表的題名為玻璃配合料的均勻度(玻璃與搪瓷,1999,12(6):39-49)可知，現有技術中對玻璃配合料均勻度的測定方法包括電導率法、光反射密度法與酸堿度滴定方法。其中，酸堿度滴定方法為通過鹽酸消耗量來測定配合料中碳酸鈉的含量，通過計算各份配合料中碳酸鈉的含量差異計算得到玻璃配合料的均勻度，然而某些玻璃配合料中除了含有碳酸鈉，還含有質量分數較高的碳酸鉀和/或氧化鈣，直接影響了玻璃配合料均勻度的測量。

而電導率法則是通過測算各份玻璃配合料的電導率來計算均勻度，玻璃配合料中的碳酸鈉與硫酸鈉提供玻璃的主要氧化物Na₂O，這兩種鹽在水中能夠完全溶解，溶解后產生的帶電顆粒在電場影響下移動而傳遞電子，最終顯示了導電特性。但玻璃配合料中不僅僅含有碳酸鈉與硫酸鈉，玻璃配合料中的鉀鹽同樣對電導率的數值產生影響，在玻璃配合料中可溶性鈉鹽與鉀鹽的質量分數一般超過20％的前提下，利用電導率法測定玻璃配合料的均勻度，往往存在著誤差較大的缺陷。

光反射密度法則是根據玻璃配合料表面具有的反射光線的能力，光源發出的平行光投射于粉體表面，根據入射光的光通量與反射光的光通量的關系可以得到粉體的反射能力，而后通過光電信號轉換得到粉體的光反射密度。一般，光反射能力取決于固體表面的光吸收性能以及表面粗糙程度，待測粉體的厚度以及制樣條件直接影響了光反射密度法所得數值的準確度，因此，光反射密度法測量時的測量誤差較大。

CN 103323479A公開了一種玻璃配合料均勻度的測定方法，包括以下步驟：(1)制樣：將玻璃配合料樣品和玻璃配合料標準樣品制成適合X射線熒光光譜儀測量用的玻璃配合料樣片和玻璃配合料標準樣片；(2)制作標準曲線：采用玻璃配合料標準樣片制作各元素或各氧化物對應的標準曲線；(3)測定玻璃配合料樣品中的成分：用X射線熒光光譜儀測量玻璃配合料樣片中各元素的熒光X射線強度，并根據各元素或各氧化物對應的標準曲線計算出玻璃配合料樣品中各元素或各氧化物的含量；(4)根據計算出玻璃種各元素或各氧化物的含量，計算得到玻璃配合料的均勻度。所述測定方法需要測定多組元素的含量，且需要借助X射線熒光光譜儀，測量的設備成本與時間成本較高。

隨著對玻璃質量的要求越來越高，對玻璃配合料的均勻度必然存在著越來越高的要求，因此，提供一種配合料均勻度測試簡單且準確度高的方法有利于提高玻璃制備的質量，提高玻璃制備的效率。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明的目的在于提供一種評價玻璃配合料均勻度的方法，尤其涉及一種評價蓋板玻璃配合料均勻度的方法，所述方法能夠在取樣量較少的情況下實現對玻璃配合料的簡單、快速測量，且測量誤差較小。

為達此目的，本發明采用以下技術方案：