[發(fā)明專利]穩(wěn)定性測(cè)試方法、系統(tǒng)、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010554097.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111752782A | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張闖;熊瑋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海聞泰電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/22 | 分類號(hào): | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 潘登 |
| 地址: | 200001 上海市黃浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 穩(wěn)定性 測(cè)試 方法 系統(tǒng) 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種穩(wěn)定性測(cè)試方法,所述方法包括:
加載預(yù)先安裝的臨時(shí)工具文件,以啟動(dòng)針對(duì)測(cè)試設(shè)備的穩(wěn)定性測(cè)試流程;
通過所述臨時(shí)工具文件查詢至少一項(xiàng)穩(wěn)定性參數(shù);
根據(jù)所述穩(wěn)定性參數(shù)確定穩(wěn)定性狀態(tài);
如果所述穩(wěn)定性狀態(tài)滿足穩(wěn)定性異常條件,則終止所述穩(wěn)定性測(cè)試流程,以通過與所述測(cè)試設(shè)備通信連接的配合設(shè)備獲取穩(wěn)定性測(cè)試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述通過所述臨時(shí)工具文件查詢至少一項(xiàng)穩(wěn)定性參數(shù),包括:
通過所述臨時(shí)工具文件發(fā)送至少一項(xiàng)狀態(tài)查詢指令;
接收針對(duì)所述狀態(tài)查詢指令的指令響應(yīng)結(jié)果;
解析所述指令響應(yīng)結(jié)果,以獲取所述穩(wěn)定性參數(shù);
其中,所述穩(wěn)定性參數(shù)包括客戶識(shí)別模塊SIM卡就緒狀態(tài)參數(shù)、駐網(wǎng)狀態(tài)參數(shù)以及數(shù)據(jù)連接狀態(tài)參數(shù)中的至少一項(xiàng);所述穩(wěn)定性狀態(tài)包括SIM卡就緒狀態(tài)、駐網(wǎng)狀態(tài)以及數(shù)據(jù)連接狀態(tài)中的至少一項(xiàng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述穩(wěn)定性異常條件包括以下一項(xiàng)或多項(xiàng)的組合:
所述SIM卡就緒狀態(tài)參數(shù)出現(xiàn)第一異常值;
所述駐網(wǎng)狀態(tài)參數(shù)出現(xiàn)第二異常值;
所述數(shù)據(jù)連接狀態(tài)參數(shù)出現(xiàn)第三異常值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述終止穩(wěn)定性測(cè)試流程,包括:
判斷自穩(wěn)定性狀態(tài)滿足穩(wěn)定性異常條件的時(shí)刻起至當(dāng)前時(shí)刻的當(dāng)前過渡時(shí)長(zhǎng),是否達(dá)到間隔設(shè)定時(shí)長(zhǎng);
如果確定所述當(dāng)前過渡時(shí)長(zhǎng)到達(dá)所述間隔設(shè)定時(shí)長(zhǎng),則通過所述臨時(shí)工具文件發(fā)送流程終止指令;
響應(yīng)所述流程終止指令,以切斷測(cè)試端口;
其中,所述測(cè)試端口用于建立所述測(cè)試設(shè)備與所述配合設(shè)備之間的通信連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
安裝所述臨時(shí)工具文件;
在確定所述穩(wěn)定性測(cè)試流程結(jié)束后,刪除所述臨時(shí)工具文件。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備與所述配合設(shè)備通過測(cè)試端口通信連接,所述配合設(shè)備用于在所述測(cè)試設(shè)備測(cè)試穩(wěn)定性狀態(tài)的過程中,生成測(cè)試數(shù)據(jù),并在所述測(cè)試設(shè)備終止穩(wěn)定性測(cè)試流程時(shí)輸出目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備采用高通基帶芯片;所述配合設(shè)備通過改進(jìn)的QXDM工具生成測(cè)試數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù);
所述目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試過程中設(shè)定時(shí)間段內(nèi)的網(wǎng)絡(luò)穩(wěn)定性關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。
8.一種穩(wěn)定性測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括測(cè)試設(shè)備以及配合設(shè)備;所述測(cè)試設(shè)備通過測(cè)試端口與所述配合設(shè)備保持通信連接;其中:
所述測(cè)試設(shè)備用于加載預(yù)先安裝的臨時(shí)工具文件,以啟動(dòng)針對(duì)測(cè)試設(shè)備的穩(wěn)定性測(cè)試流程,通過所述臨時(shí)工具文件查詢至少一項(xiàng)穩(wěn)定性參數(shù),根據(jù)所述穩(wěn)定性參數(shù)確定穩(wěn)定性狀態(tài),如果所述穩(wěn)定性狀態(tài)滿足穩(wěn)定性異常條件,則終止所述穩(wěn)定性測(cè)試流程;
所述配合設(shè)備用于在所述穩(wěn)定性測(cè)試流程中,生成測(cè)試數(shù)據(jù),并在所述測(cè)試設(shè)備終止所述穩(wěn)定性測(cè)試流程時(shí)輸出目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù),以獲取穩(wěn)定性測(cè)試結(jié)果。
9.一種穩(wěn)定性測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
臨時(shí)工具文件加載模塊,用于加載預(yù)先安裝的臨時(shí)工具文件,以啟動(dòng)針對(duì)測(cè)試設(shè)備的穩(wěn)定性測(cè)試流程;
穩(wěn)定性參數(shù)查詢模塊,用于通過所述臨時(shí)工具文件查詢至少一項(xiàng)穩(wěn)定性參數(shù);
穩(wěn)定性狀態(tài)確定模塊,用于根據(jù)所述穩(wěn)定性參數(shù)確定穩(wěn)定性狀態(tài);
穩(wěn)定性測(cè)試流程終止模塊,用于如果所述穩(wěn)定性狀態(tài)滿足穩(wěn)定性異常條件,則終止所述穩(wěn)定性測(cè)試流程,以通過與所述測(cè)試設(shè)備通信連接的配合設(shè)備獲取穩(wěn)定性測(cè)試結(jié)果。
10.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一所述的穩(wěn)定性測(cè)試方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海聞泰電子科技有限公司,未經(jīng)上海聞泰電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010554097.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





