[發明專利]原位力加載實驗儀器

在審

• 申請號: 202010553986.0
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111521485A
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 許峰;許磊;肖宇;胡小方
• 申請（專利權）人: 中國科學技術大學
• 主分類號: G01N3/02
• 分類號: G01N3/02;G01N3/04;G01N3/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李赫

1.一種原位力加載實驗儀器，其特征在于，包括對實驗試件進行裝夾和力加載的微試件加載系統，架撐所述微試件加載系統的支撐框架；

所述支撐框架的底部設置有對其進行支撐和對CT實驗旋轉軸的豎直度與位置調整的轉軸定位系統。

2.根據權利要求1所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述微試件加載系統包括裝夾所述實驗試件并對其進行定位與旋轉的定位旋轉系統，對所述定位旋轉系統的位置進行對準的夾具對準系統，和對實驗進行力學加載的力加載系統。

3.根據權利要求2所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述定位旋轉系統包括設置于所述支撐框架的頂部，對所述實驗試件的位置進行調整和旋轉的上定位旋轉系統，

和固裝于所述夾具對準系統上方，對所述實驗試件的位置調整和旋轉的下定位旋轉系統。

4.根據權利要求3所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述上定位旋轉系統包括架裝于所述支撐框架的頂部，對所述實驗試件進行旋轉的上部旋轉臺，

和架裝于所述上部旋轉臺的下方，對所述實驗試件進行位置調整的上部正交位移臺。

5.根據權利要求3所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述下定位旋轉系統包括架裝于所述夾具對準系統的上方，對所述實驗試件進行旋轉的下部旋轉臺，

和架裝于所述下部旋轉臺的上方，對所述實驗試件進行位置調整的下部正交位移臺。

6.根據權利要求2所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述夾具對準系統內設置有對所述定位旋轉系統的橫向位置進行調整的第一正交位移臺，

以及對所述定位旋轉系統的傾斜角度進行調整的第一正交傾斜臺。

7.根據權利要求2所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述微試件加載系統還包括對所述上定位旋轉系統和所述下定位旋轉系統的位置調整與信息數據采集過程中旋轉臺旋轉進行同步控制的同步裝置。

8.根據權利要求7所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述力加載驅動裝置上設置有對其加載力進行監測的力傳感器，和對其位移進行監測的位移傳感器。

9.根據權利要求1所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，所述轉軸定位系統包括上下布置，對所述支撐框架進行旋轉調整的轉軸定位傾斜臺，

對所述支撐框架的橫向位置進行調整的轉軸定位位移臺，

對所述支撐框架的高度進行調整的轉軸定位升降臺。

10.根據權利要求1所述的原位力加載實驗儀器，其特征在于，還包括與所述支撐框架的位置配合，產生X射線的同步輻射光源或X射線機，

以及接收所述X射線的X-ray探測器，對接收的所述X射線進行圖像反演重建和處理系統。