[發(fā)明專利]一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片及檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010552692.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113009134A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓琳;王春華;張宇;劉宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山東大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N33/574 | 分類號(hào): | G01N33/574;G01N33/558;B01L3/00 |
| 代理公司: | 青島華慧澤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 37247 | 代理人: | 劉娜 |
| 地址: | 250013 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 腫瘤 標(biāo)志 檢測(cè) 微流控 芯片 方法 | ||
1.一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,包括反應(yīng)層襯底和位于其上的微流道加樣層,所述反應(yīng)層襯底包括載玻片基板和組裝于載玻片基板上的氧化石墨烯量子點(diǎn)納米材料基底,所述氧化石墨烯量子點(diǎn)納米材料基底上印刷有條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶;所述微流道加樣層的底部設(shè)有多個(gè)微流道凹槽,多個(gè)所述微流道凹槽與多個(gè)所述條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶垂直布置形成多個(gè)反應(yīng)點(diǎn)陣,所述微流道加樣層上還設(shè)有上下貫通的流入孔和流出孔,所述微流道凹槽的兩端分別與所述流入孔和流出孔連通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,多個(gè)所述條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶周期性平鋪于氧化石墨烯量子點(diǎn)納米材料基底上形成探針區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,多個(gè)所述條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶均勻排列,且平行間隔設(shè)置,多個(gè)所述微流道凹槽均勻垂直于多個(gè)所述條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶布置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,所述載玻片基板的材質(zhì)為硅酸鈣、硅酸鈉或二氧化硅。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,所述氧化石墨烯量子點(diǎn)納米材料基底為將所述載玻片基板與氧化石墨烯量子點(diǎn)納米材料反應(yīng)后沖洗,晾干得到。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,所述條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶是生物分子與氧化石墨烯量子點(diǎn)納米材料基底通過(guò)功能團(tuán)或π-π鍵物理吸附在載玻片基板上。
7.一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的方法,采用如權(quán)利要求1所述的一種用于腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)的微流控芯片,其特征在于,包括如下過(guò)程:
(1)從多個(gè)流入孔分別注入不同的待測(cè)樣本,孵育15-30min,使待測(cè)樣本中的待測(cè)抗原充分與反應(yīng)層襯底上條形檢測(cè)帶和質(zhì)控帶的腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)抗體結(jié)合,孵育完成之后,從流出孔將多余的待測(cè)樣本取出,此時(shí),待測(cè)抗原與腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)抗體特異性結(jié)合固定在反應(yīng)層襯底上;
(2)在含BSA質(zhì)量濃度為0.5-5%的DPBS中揭片,并且用質(zhì)量濃度為0.5-5%的BSA將沒(méi)有吸附在反應(yīng)層襯底上的待測(cè)抗原沖洗干凈;
(3)取混合檢測(cè)抗體溶液滿鋪在反應(yīng)層襯底上,孵育10-30min;
(4)用質(zhì)量濃度為0.5-5%的BSA沖洗,然后取APC-鏈霉親和素偶聯(lián)物滿鋪在反應(yīng)層襯底上,此時(shí),APC-鏈霉親和素偶聯(lián)物與帶有生物素標(biāo)記的腫瘤標(biāo)志物檢測(cè)抗體特異性結(jié)合固定在反應(yīng)層襯底上,然后對(duì)腫瘤標(biāo)志物進(jìn)行熒光檢測(cè)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于山東大學(xué),未經(jīng)山東大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010552692.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





