[發明專利]頓悟能力評估方法及相關設備

有效

• 申請號: 202010552504.X
• 申請日: 2020-06-16
• 公開（公告）號: CN111700611B
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發明（設計）人: 于成龍;黃艷;葉文梓
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: A61B5/378
• 分類號: A61B5/378;A61B5/369;A61B5/16;A61B5/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;陳聰

1.一種頓悟能力評估方法，其特征在于，包括：

根據英文單詞數據庫對測試者進行頓悟能力檢測，獲取第一檢測參數；其中，將所述英文單詞數據庫中的單詞的字母順序打亂，由所述測試者進行字母恢復，并獲取所述測試者在字母恢復過程中的相關參數作為所述第一檢測參數；所述第一檢測參數包括第一腦電指標；

根據圖形數據庫對測試者進行頓悟能力檢測，獲取第二檢測參數，所述第一檢測參數、所述第二檢測參數與頓悟能力相關聯；其中，所述圖形數據庫包括多個圖像，所述圖像由多個基本圖形組成，根據所述圖形數據庫向所述測試者輸出打亂基本圖形位置后的測試圖像；獲取所述測試者恢復測試圖像過程中的相關參數作為所述第二檢測參數；所述第二檢測參數包括第二腦電指標；

根據所述第一檢測參數、所述第二檢測參數分別得到所述測試者的第一頓悟力評價信息和第二頓悟力評價信息；

所述第一檢測參數還包括第一反應時間、第一主觀評價、第一正確率和頓悟式的第一占比；

根據英文單詞數據庫對測試者進行頓悟能力檢測，獲取第一檢測參數，包括：

根據所述英文單詞數據庫確定用于能力檢測的測試單詞；

向所述測試者輸出打亂字母順序后的測試單詞；

獲取所述測試者恢復單詞過程中的第一腦電指標、恢復單詞的第一反應時間，以及所述測試者對恢復該單詞的方式的第一主觀評價，所述第一腦電指標與頓悟能力相關，所述第一主觀評價包括頓悟式和分析式；

獲取所述測試者恢復測試單詞的第一正確率和恢復單詞方式中頓悟式的第一占比；

所述第二檢測參數還包括第二反應時間、第二主觀評價、第二正確率和頓悟式的第二占比；

根據圖形數據庫對測試者進行頓悟能力檢測，獲取第二檢測參數，包括：

根據所述圖形數據庫確定用于能力檢測的測試圖像；

向所述測試者輸出打亂基本圖形位置后的測試圖像；

獲取所述測試者恢復測試圖像過程中的第二腦電指標、恢復測試圖像的第二反應時間，以及所述測試者對恢復該測試圖像的方式的第二主觀評價，所述第二腦電指標與頓悟能力相關，所述第二主觀評價包括頓悟式和分析式；

獲取所述測試者恢復測試圖像的第二正確率和恢復單詞方式中頓悟式的第二占比。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據英文單詞數據庫對測試者進行頓悟能力檢測，獲取第一檢測參數，包括：

根據所述測試者的年齡和教育情況，從不同難度等級的英文單詞數據庫中，確定用于檢測測試者的頓悟能力的英文單詞數據庫。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據英文單詞數據庫對測試者進行頓悟能力檢測，獲取第一檢測參數，包括：

在頓悟能力檢測后，獲取所述測試者對所述測試單詞的辨識結果；

辨識結果為辨識失敗，剔除所述測試單詞的第一腦電指標、第一反應時間和第一主觀評價；

根據剔除后的數據獲取所述第一正確率和所述第一占比。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據所述第一檢測參數、所述第二檢測參數分別得到所述測試者的第一頓悟力評價信息和第二頓悟力評價信息，包括：

根據所述第一檢測參數、第一頓悟力上限的參數、第一頓悟力下限的參數計算所述第一檢測參數與所述第一頓悟力上限的參數、所述第一頓悟力下限的參數之間的相對歐式距離，根據所述相對歐式距離確定所述測試者的第一頓悟力評價信息；所述第一頓悟力上限的參數為理想頓悟狀態下的檢測參數，所述第一頓悟力下限的參數為無測試者狀態下的檢測參數；

根據所述第二檢測參數、第二頓悟力上限的參數、第二頓悟力下限的參數計算所述第二檢測參數與所述第二頓悟力上限的參數、所述第二頓悟力下限的參數之間的相對歐式距離，根據所述相對歐式距離確定所述測試者的第二頓悟力評價信息；所述第二頓悟力上限的參數為理想頓悟狀態下的檢測參數，所述第二頓悟力下限的參數為無測試者狀態下的檢測參數。