[發明專利]系統評分方法、裝置、可讀介質及電子設備在審
| 申請號: | 202010551945.8 | 申請日: | 2020-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN111814838A | 公開(公告)日: | 2020-10-23 |
| 發明(設計)人: | 王正超 | 申請(專利權)人: | 新奧數能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京嘉科知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11687 | 代理人: | 楊波 |
| 地址: | 100102 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 系統 評分 方法 裝置 可讀 介質 電子設備 | ||
1.一種系統評分方法,其特征在于,包括:
獲取工業系統在評分時段內的第一特征數據集以及所述評分時段前預設時段內的第二特征數據集;
確定所述第一特征數據集中的第一特征數據和所述第二特征數據集的第一相似度值;
確定所述第二特征數據集中的第二特征數據和所述第二特征數據集的第二相似度值;
根據各個所述第一特征數據分別和所述第二特征數據集的第一相似度值以及各個所述第二特征數據分別和所述第二特征數據集的第二相似度值,確定所述工業系統的系統評分。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據各個所述第一特征數據分別和所述第二特征數據集的第一相似度值以及各個所述第二特征數據分別和所述第二特征數據集的第二相似度值,確定所述工業系統的系統評分,包括:
根據各個所述第一特征數據分別和所述第二特征數據集的第一相似度值,確定所述第一特征數據集對應的第一參考相似度值;
根據各個所述第二特征數據分別和所述第二特征數據集的第二相似度值,確定所述第二特征數據集對應的第二參考相似度值;
根據所述第一參考相似度值和所述第二參考相似度值,確定所述工業系統的系統評分。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據所述第一參考相似度值和所述第二參考相似度值,確定所述工業系統的系統評分,包括:
確定所述第一參考相似度值和所述第二參考相似度值之間的比較信息;
根據所述比較信息,確定所述工業系統的系統評分。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述比較信息,確定所述工業系統的系統評分,包括:
當所述比較信息滿足第一預設條件時,根據預設比較信息和系統評分之間的映射關系,確定所述工業系統的系統評分;
當所述比較信息滿足第二預設條件時,獲取所述比較信息對應的插值公式,將所述第一參考相似度值和所述第二參考相似度值代入所述插值公式中,確定所述工業系統的系統評分。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取工業系統在評分時段內的第一特征數據集以及所述評分時段前預設時段內的第二特征數據集,包括:
獲取工業系統在評分時段內的第一參考特征數據集以及所述評分時段前預設時段內的第二參考特征數據集;
對所述第二參考特征數據集進行特征選取,確定工業系統的優勝特征集;
根據所述優勝特征集以及所述第一參考特征數據集,確定第一特征數據集;
根據所述優勝特征集以及所述第二參考特征數據集,確定第二特征數據集。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一特征數據對應一個時間點,由所述時間點對應在所述第一參考特征數據集中的特征值所形成,所述特征值對應的特征為所述優勝特征集中的特征。
7.根據權利要求1至6中任一所述的方法,其特征在于,所述第一相似度值和所述第二相似度值均為馬氏距離值。
8.一種系統評分裝置,其特征在于,包括:
數據獲取模塊,用于獲取工業系統在評分時段內的第一特征數據集以及所述評分時段前預設時段內的第二特征數據集;
第一相似度確定模塊,用于確定所述第一特征數據集中的第一特征數據和所述第二特征數據集的第一相似度值;
第二相似度確定模塊,用于確定所述第二特征數據集中的第二特征數據和所述第二特征數據集的第二相似度值;
評分模塊,用于根據各個所述第一特征數據分別和所述第二特征數據集的第一相似度值以及各個所述第二特征數據分別和所述第二特征數據集的第二相似度值,確定所述工業系統的系統評分。
9.一種計算機可讀存儲介質,包括執行指令,當電子設備的處理器執行所述執行指令時,所述處理器執行如權利要求1至7中任一所述的方法。
10.一種電子設備,包括處理器以及存儲有執行指令的存儲器,當所述處理器執行所述存儲器存儲的所述執行指令時,所述處理器執行如權利要求1至7中任一所述的方法。
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