[發明專利]顯示面板

有效

• 申請號: 202010551562.0
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111796713B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: 陳辰
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G02F1/13;G02F1/1333;G02F1/1343
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 遠明

本申請提供了一種顯示面板，本申請中顯示面板的非顯示區域內設置有測試模塊，測試模塊至少包括測試端子、測試電路、以及連接測試端子與測試電路的測試引線；其中，測試端子表面形成有刻蝕保護層，且刻蝕保護層位于觸控層的驅動電極層和感應電極層之間，測試端子為感應電極層對于非顯示區延伸的部分，延伸的部分與刻蝕保護層的電性連接，增加了測試端子搭接的面積，又減少觸控層中觸控電極的彎折角度，提高測試引線的穩定性，增加了顯示面板觸控層測試的可靠性和有效性，同時當用戶使用時發生異常時，可以在不破壞顯示面板的情況下，直接量測測試模塊，從而對異常進行分析，降低了顯示面板維修的成本。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板。

背景技術

目前，一體化的觸控顯示面板主要包括兩種類型：將觸控傳傳感器設置在顯示面板的偏光片與彩膜基板之間的外嵌型(On-Cell)；以及將觸控感器嵌入到顯示面板的像素結構之中的內嵌型(In-Cell)。

在內嵌型低溫多晶硅觸控顯示面板制造中電性檢測常為破壞性測試，無法使用產品電路直接進行測試，需要在顯示面板中觸控層伸出引線，然后測試電路用探針測量引線的電壓電壓、電流、或電阻值，用這些電壓、電流、或電阻參數來判斷液晶顯示面板運行是否正常，由于觸控層中感應電極層和觸控電極的厚度非常薄，且觸控電極的彎折的角度大，極容易在平坦化層邊緣處斷裂，導致測試失敗，再加上顯示面板的膜層較多，一般將將測試模塊放置于顯示面板邊角處等非顯示區域，這更增加了測試的難度。

綜上所述，需要提出一種顯示面板，解決現有技術中低溫多晶硅顯示面板中不容易測試觸控層運行參數，容易出現測試數值不準確，極大影響著顯示面板的品質判斷的技術問題。

發明內容

本發明提供一種顯示面板，能夠解決現有技術中低溫多晶硅顯示面板中不容易測試觸控層運行參數，容易出現測試數值不準確，極大影響著顯示面板的品質判斷的技術問題。

為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種顯示面板，包括顯示區域、以及位于位于所述顯示區域外的非顯示區域，所述非顯示區域內設置有測試模塊，所述測試模塊至少包括測試端子、測試電路、以及連接所述測試端子與所述測試電路的測試引線；其中，所述測試端子表面形成有刻蝕保護層。

根據本發明一優選實施例，所述刻蝕保護層為金屬層，該金屬層的材料為鉬、鈦和鉭中一種或兩種以上的金屬材料。

根據本發明一優選實施例，所述顯示面板包括TFT陣列，所述TFT陣列包括柵極金屬、源/漏極金屬、以及像素電極，在所述非顯示區內，所述測試端子與所述源/漏極金屬同層制備，所述引線與所述像素電極同層制備，所述引線與所述測試端子通過過孔搭接。

根據本發明一優選實施例，所述顯示面板內還設置有觸控層，所述觸控層包括驅動電極層和感應電極層，在所述非顯示區內，所述測試端子為所述感應電極層的延伸部，且所述刻蝕保護層位于所述驅動電極層和感應電極層之間。

根據本發明一優選實施例，所述刻蝕保護層包括水平覆蓋段、以及連接所述水平覆蓋段的坡形覆蓋段，所述水平覆蓋段覆蓋所述測試端子表面，所述坡形覆蓋段覆蓋所述測試端子的端部、且延伸至所述測試端子背側的膜層端部。

根據本發明一優選實施例，所述感應電極層與所述刻蝕保護層的圖案化形狀相同，避免所述感應電極層過刻蝕。

根據本發明一優選實施例，所述感應電極層和所述刻蝕保護層與所述源/漏極金屬同一道光罩制備而成。

根據本發明一優選實施例，測試引線包括第一引線和第二引線，所述測試端子包括第一端子和第二端子，所述第一引線與所述第一端子電性連接，所述第二引線與所述第二端子電性連接，且所述第一端子和所述第二端子對稱設置于所述顯示面板的兩側邊角處。