[發(fā)明專利]一種用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置

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• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111650068A
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余超;李晨霖
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫湖山智能科技有限公司
• 主分類號: G01N3/42
• 分類號: G01N3/42;G01N3/02;G01N3/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：包括底架(1)，切痕機(jī)(3)，減震滑塊(4)，力度標(biāo)尺(5)，傳動軸(6)，驅(qū)動裝置(7)；所述底架(1)的上表面滑動連接有兩處拉伸座(2)；所述減震滑塊(4)活動連接在底架(1)的上表面；所述拉伸座(2)包括有下夾塊(201)和上夾塊(202)；所述切痕機(jī)(3)的架體通過焊接連接在底架(1)的前方；所述力度標(biāo)尺(5)的下端通過焊接連接在切痕機(jī)(3)的底架(1)上方；所述傳動軸(6)的兩端分別通過軸承活動連接在底架(1)的下表面兩側(cè)；所述驅(qū)動裝置(7)的支架通過焊接連接在底架(1)的下表面，且驅(qū)動裝置(7)的輸出軸通過齒輪嚙合連接傳動軸(6)的從動輪(601)。

2.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述底架(1)的上表面上加工有一處雙凸條(101)，且雙凸條(101)的中間開設(shè)有兩條方形結(jié)構(gòu)的滑槽(102)，所述雙凸條(101)是截面呈“T”形結(jié)構(gòu)的兩條互相平行的凸條。

3.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述下夾塊(201)的下表面開設(shè)有兩條截面呈“T”形的上滑軌(2011)，且下夾塊(201)的下表面固定連接有開設(shè)橫向螺紋孔的螺紋導(dǎo)塊(2012)，撐板(2013)通過焊接固定連接在下夾塊(201)的上方，且撐板(2013)上方開設(shè)有一處螺紋孔，并且撐板(2013)呈L形折板，所述下夾塊(201)的上表面開設(shè)有齒形條。

4.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述切痕機(jī)(3)的左側(cè)面上固定連接有一處限位滑塊(301)，且限位滑塊(301)的外側(cè)固定連接有一處標(biāo)度針(302)。

5.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述減震滑塊(4)的上表面兩側(cè)固定連接有兩處側(cè)滾筒(402)的軸架，且減震滑塊(4)上表面中間固定連接有彈簧桿(404)，并且彈簧桿(404)內(nèi)通過彈簧連接有中間滾筒(403)的軸架，所述減震滑塊(4)的下表面設(shè)有一處“T”形的下凸條(401)，所述側(cè)滾筒(402)的高度低于中間滾筒(403)的高度。

6.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述力度標(biāo)尺(5)的中間開設(shè)有讀數(shù)槽(501)，且讀數(shù)槽(501)的外側(cè)加工有刻度標(biāo)，所述力度標(biāo)尺(5)呈弧形結(jié)構(gòu)。

7.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述傳動軸(6)的中間固定連接有一處從動輪(601)，側(cè)傳動絲杠(602)分兩處開設(shè)在傳動軸(6)的兩端，且傳動軸(6)兩端的側(cè)傳動絲杠(602)的螺距和齒距相同，旋向相反。

8.如權(quán)利要求1所述用于北斗導(dǎo)航芯片的連接線壽命測試裝置，其特征在于：所述上夾塊(202)的下表面開設(shè)有T形的滑槽，壓板(2021)的上方加工有一處T形結(jié)構(gòu)的上凸條(2022)，且上凸條(2022)滑動連接在上夾塊(202)的滑槽內(nèi)，所述壓板(2021)的下表面加工有齒形條。