[發(fā)明專利]一種IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試夾具在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010551124.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111781405A | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊煒光;李耀武;張永健;白曉輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安易恩電氣科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R1/20;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京金宏來專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11641 | 代理人: | 許振強(qiáng) |
| 地址: | 710000 陜西省西安市高新區(qū)錦業(yè)*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ipm 動(dòng)態(tài) 參數(shù) 測(cè)試 夾具 | ||
本發(fā)明涉及一種IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試夾具,包括夾具支架;測(cè)試基座,固定設(shè)置于所述夾具支架上,所述測(cè)試基座上設(shè)置有用于連接被測(cè)IPM模塊的測(cè)試連接端,所述測(cè)試連接端包括測(cè)試塊和對(duì)應(yīng)所述被測(cè)IPM模塊的引腳設(shè)置在所述測(cè)試塊上的多個(gè)面接觸元件,多個(gè)所述面接觸元件電連接有測(cè)試單元;切換裝置,設(shè)置于所述夾具支架上,用于切斷或連通測(cè)試單元與被測(cè)IPM模塊,本申請(qǐng)具有使被測(cè)IPM模塊與測(cè)試連接端之間為面接觸,進(jìn)而提高了被測(cè)IPM模塊與測(cè)試連接端之間的接觸穩(wěn)定性,且消除了打火現(xiàn)象。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電器測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及一種IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試夾具。
背景技術(shù)
IPM,即智能功率模塊(Itelligent Power Module),集成了功率開關(guān)器件與驅(qū)動(dòng)電路,在電力電子變換中發(fā)揮著著重要作用,廣泛應(yīng)用于電動(dòng)汽車、各種逆變電源、變頻家電、伺服驅(qū)動(dòng)等領(lǐng)域。
對(duì)于IPM的電氣參數(shù)測(cè)試,尤其是動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試對(duì)于其性能保證有著重要作用。行業(yè)內(nèi)對(duì)于功率模塊的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試,測(cè)試夾具與模塊電氣連接普遍采用探針接觸式連接,如圖1所示,為某一端子的探針連接,其他端子類似。探針與模塊電氣端子接觸面較小,很大可能為點(diǎn)接觸連接,存在連接可靠性問題,且測(cè)試過程中端子通過較大測(cè)試電流時(shí)有很大概率產(chǎn)生打火現(xiàn)象,損傷模塊與測(cè)試設(shè)備。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述背景技術(shù)中的問題,本發(fā)明提供了一種IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試夾具,其使被測(cè)IPM模塊與測(cè)試連接端之間為面接觸,進(jìn)而提高了被測(cè)IPM模塊與測(cè)試連接端之間的接觸穩(wěn)定性,且消除了打火現(xiàn)象。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:
一種IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試夾具,其特征在于:包括
夾具支架;
測(cè)試基座,固定設(shè)置于所述夾具支架上,所述測(cè)試基座上設(shè)置有用于連接被測(cè)IPM模塊的測(cè)試連接端,所述測(cè)試連接端包括測(cè)試塊和對(duì)應(yīng)被測(cè)IPM模塊的引腳設(shè)置在所述測(cè)試塊上的多個(gè)面接觸元件,多個(gè)所述面接觸元件電連接有測(cè)試單元;
切換裝置,設(shè)置于所述夾具支架上,用于切斷或連通測(cè)試單元與被測(cè)IPM模塊。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述面接觸元件設(shè)置為銅排,所述銅排位于所述測(cè)試塊周壁遠(yuǎn)離所述測(cè)試基座一端的邊沿處。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述面接觸元件設(shè)置為插接管,所述插接管豎直設(shè)置在連接塊內(nèi),所述插接管與被測(cè)IPM模塊的引腳套接。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述測(cè)試單元包括設(shè)置在所述測(cè)試基座內(nèi)的測(cè)試電路和設(shè)置在所述測(cè)試基座兩側(cè)的多個(gè)信號(hào)傳遞探針,所述信號(hào)傳遞探針與所述測(cè)試電路電連接。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述測(cè)試基座于設(shè)置測(cè)試連接端的一側(cè)設(shè)置有多個(gè)壓緊裝置,所述測(cè)試塊的周壁上設(shè)置有抵接邊沿,所述壓緊裝置能夠抵接所述抵接邊沿。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述測(cè)試基座上設(shè)置有設(shè)置有至少兩根套接桿,所述抵接邊沿或/和所述測(cè)試塊對(duì)應(yīng)所述套接桿設(shè)置有至少兩個(gè)套接孔。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述夾具支架上設(shè)置有往復(fù)驅(qū)動(dòng)源,所述往復(fù)驅(qū)動(dòng)源連接有加熱體,所述往復(fù)驅(qū)動(dòng)源能夠帶動(dòng)所述加熱體抵接或脫離被測(cè)IPM模塊。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述往復(fù)驅(qū)動(dòng)源與所述加熱體之間設(shè)置有隔熱板,所述隔熱板與所述加熱體之間設(shè)置有隔熱墊塊。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述切換裝置包括固定設(shè)置在所述夾具支架上的安裝板和設(shè)置在所述安裝板上的多個(gè)氣動(dòng)開關(guān),多個(gè)所述氣動(dòng)開關(guān)對(duì)應(yīng)位于所述測(cè)試基板底部的多個(gè)信號(hào)傳遞探針設(shè)置。
作為發(fā)明的進(jìn)一步說明:所述氣動(dòng)開關(guān)包括切換氣缸和設(shè)置在所述切換氣缸活塞桿上的短接墊片,所述切換氣缸能夠帶動(dòng)所述短接墊片抵接或脫離所述信號(hào)傳遞探針。
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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- 用于飛輪儲(chǔ)能裝置的IPM過流保護(hù)電路、模塊及系統(tǒng)
- 一種IPM輸出短路保護(hù)方法
- 用于飛輪儲(chǔ)能裝置的IPM過溫保護(hù)電路、模塊及系統(tǒng)
- 用于飛輪儲(chǔ)能裝置的IPM過流保護(hù)電路、模塊及系統(tǒng)
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