[發(fā)明專利]一種測(cè)試方法、設(shè)備、測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010550173.6
• 申請(qǐng)日: 2020-06-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113806210A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-12-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李青瑤;陳方正
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京字節(jié)跳動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京遠(yuǎn)智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11659
• 代理人: 范坤坤

本公開(kāi)公開(kāi)了一種測(cè)試方法、設(shè)備、測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。所述方法包括：通過(guò)應(yīng)用程序進(jìn)程外的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試框架獲取測(cè)試請(qǐng)求；在所述測(cè)試請(qǐng)求為元素操作請(qǐng)求時(shí)，所述系統(tǒng)級(jí)測(cè)試框架將所述元素操作請(qǐng)求傳輸至所述應(yīng)用程序進(jìn)程內(nèi)的功能測(cè)試框架；所述功能測(cè)試框架響應(yīng)所述元素操作請(qǐng)求。利用該方法，能夠有效解決了自動(dòng)化性能測(cè)試時(shí)，運(yùn)行速度慢和效率低的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開(kāi)實(shí)施例涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試方法、設(shè)備、測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

在項(xiàng)目，如應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)或應(yīng)用過(guò)程中，對(duì)項(xiàng)目進(jìn)行自動(dòng)化性能測(cè)試是極為重要的。

目前，進(jìn)行自動(dòng)化性能測(cè)試所使用的測(cè)試工具，如WDA需要跨進(jìn)程訪問(wèn)應(yīng)用程序，以響應(yīng)元素操作請(qǐng)求從而實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)的性能測(cè)試，因此在自動(dòng)化性能測(cè)試時(shí)，存在運(yùn)行速度較慢，效率較低的技術(shù)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種測(cè)試方法、設(shè)備、測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，解決了自動(dòng)化性能測(cè)試時(shí)，運(yùn)行速度和慢效率低的技術(shù)問(wèn)題。

第一方面，本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種測(cè)試方法，包括：

通過(guò)應(yīng)用程序進(jìn)程外的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試框架獲取測(cè)試請(qǐng)求；

在所述測(cè)試請(qǐng)求為元素操作請(qǐng)求時(shí)，所述系統(tǒng)級(jí)測(cè)試框架將所述元素操作請(qǐng)求傳輸至所述應(yīng)用程序進(jìn)程內(nèi)的功能測(cè)試框架；

所述功能測(cè)試框架響應(yīng)所述元素操作請(qǐng)求。

第二方面，本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種設(shè)備，包括：

一個(gè)或多個(gè)處理裝置；

存儲(chǔ)裝置，用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序；

當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理裝置執(zhí)行，使得所述一個(gè)或多個(gè)處理裝置實(shí)現(xiàn)如本公開(kāi)實(shí)施例所述的測(cè)試方法。

第三方面，本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種測(cè)試系統(tǒng)，包括：

遠(yuǎn)程測(cè)試終端和如本公開(kāi)所述的設(shè)備；

所述遠(yuǎn)程測(cè)試終端，用于向所述設(shè)備傳輸測(cè)試請(qǐng)求，并接收所述設(shè)備的測(cè)試結(jié)果。

第四方面，本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該程序被處理裝置執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)實(shí)施例提供的測(cè)試方法。

本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種測(cè)試方法、設(shè)備、測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，首先通過(guò)應(yīng)用程序進(jìn)程外的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試框架獲取測(cè)試請(qǐng)求；然后在所述測(cè)試請(qǐng)求為元素操作請(qǐng)求時(shí)，所述系統(tǒng)級(jí)測(cè)試框架將所述元素操作請(qǐng)求傳輸至所述應(yīng)用程序進(jìn)程內(nèi)的功能測(cè)試框架；最后所述功能測(cè)試框架響應(yīng)所述元素操作請(qǐng)求。利用上述技術(shù)方案有效解決了自動(dòng)化性能測(cè)試時(shí)，運(yùn)行速度慢和效率低的技術(shù)問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

圖1為本公開(kāi)實(shí)施例一提供的一種測(cè)試方法的流程示意圖；

圖2為本公開(kāi)實(shí)施例二提供的一種測(cè)試方法的流程示意圖；

圖3為本公開(kāi)實(shí)施例三提供的一種設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本公開(kāi)實(shí)施例四提供的一種測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本公開(kāi)實(shí)施例四提供的一種元素操作請(qǐng)求的處理流程示意圖；

圖6為本公開(kāi)實(shí)施例四提供的一種數(shù)據(jù)采集請(qǐng)求的處理示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將參照附圖更詳細(xì)地描述本公開(kāi)的實(shí)施例。雖然附圖中顯示了本公開(kāi)的某些實(shí)施例，然而應(yīng)當(dāng)理解的是，本公開(kāi)可以通過(guò)各種形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，而且不應(yīng)該被解釋為限于這里闡述的實(shí)施例，相反提供這些實(shí)施例是為了更加透徹和完整地理解本公開(kāi)。應(yīng)當(dāng)理解的是，本公開(kāi)的附圖及實(shí)施例僅用于示例性作用，并非用于限制本公開(kāi)的保護(hù)范圍。