[發明專利]一種測量啞光柱全息承印材料光柵常數的方法

有效

• 申請號: 202010545045.2
• 申請日: 2020-06-15
• 公開（公告）號: CN111721716B
• 公開（公告）日: 2023-03-17
• 發明（設計）人: 呂偉;郭鵬飛;許旭;黃敏;李瑩瑩;習永惠;李修
• 申請（專利權）人: 深圳勁嘉集團股份有限公司;北京印刷學院
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01M11/02
• 代理公司: 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237
• 代理人: 耿小強

1.一種測量啞光柱全息承印材料光柵常數的方法，包括如下步驟：(1)設定角分辨光譜儀的光源入射角、光電探測器的接收角以及測量的角度間隔；(2)使用標準白板，在暗室環境光下測量，進行角分辨光譜儀的校準；(3)將啞光柱全息承印材料放置在測量平臺上，選取亮光柱位置，將其作為測量區域，使用角分辨光譜儀，采集其在不同接收角度處的光譜能量信息；(4)在角分辨光譜儀的光譜測量范圍內，繪制步驟（3）中采集到的光譜能量分布曲線；(5)比較、分析步驟（4）采集到的光譜能量曲線在不同接收角度處的峰值波長位置，結合光柵方程，計算得到待測試啞光柱全息承印材料的光柵常數；步驟（1）中，角分辨光譜儀的光源入射角為45°，光電探測器的接收角為-40°~-30°；測量的角度間隔為1°，測量的光譜范圍為200nm-1100nm；步驟（2）中，所述的校準為：將標準白板在入射光以及環境光下測量得到的光譜能量曲線作為100%；同時，在暗室環境光下測量得到的光譜能量曲線作為0%；進行角分辨光譜儀的校準；步驟（2）中；所述的標準白板對在測量的200nm-1100nm不同波段的入射光反射均勻，幾乎全部反射；步驟（3）中，所述的測量區域為啞光柱全息承印材料的任意亮光柱位置處；步驟（3）中，所述的測量區域的尺寸為測量光源的光斑尺寸，不小于10mm×10mm；步驟（5）中，根據角分辨光譜儀在不同接收角測量得到的光譜曲線能量分布，其中，在-40°至-36°角度接收到的為一級衍射光能量，一級衍射光的峰值波長λ₁為0.2μm，使用光柵方程，判定啞光柱全息承印材料的光柵常數范圍。

2.根據權利要求1所述的測量啞光柱全息承印材料光柵常數的方法，其特征在于：步驟（2）中，所述的標準白板為聚四氟乙烯材質的白板。

3.根據權利要求1所述的測量啞光柱全息承印材料光柵常數的方法，其特征在于：步驟（3）中，測量為非接觸測量，測量時不用規定啞光柱全息承印材料的初始放置位置、角度，通過一次測量即可得到啞光柱全息承印材料的光柵常數。