[發明專利]粘彈性介質超聲波參數測量方法與裝置

在審

• 申請號: 202010543160.6
• 申請日: 2020-06-15
• 公開（公告）號: CN112075955A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 洛朗·桑德蘭;斯蒂芬·奧迪爾
• 申請（專利權）人: 法國愛科森有限公司
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00;A61B8/08
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 王玉雙

1.用于測量要表征的粘彈性介質的超聲波參數的方法，所述方法由超聲波系統(1000)執行，所述超聲波系統(1000)包括超聲波換能器(302)和處理器(400)，所述超聲波換能器(302)被配置為發射一連串的超聲波射束并接收來自關注區域(ROI)的相應回波信號(50)，所述處理器被編程為在第一操作模式中產生一或更多連串的超聲波射束以測量超聲波信號在組織中的衰減，所述方法包括：

產生發射至所述關注區域(ROI)的所述一或更多連串的超聲波射束，并接收來自所述關注區域的相應的第一模式回波信號(50)，其中在至少2秒的累積時段內產生所述一或更多連串的超聲波射束；

記錄與接收的所述第一模式回波信號相關聯的第一模式超聲波衰減值(α)，以及

使用所述第一模式超聲波衰減值(α)計算所述超聲波參數的值(156,166,176,224,262)。

2.如權利要求1所述的方法，其中當所述處理器在所述第一模式中操作時，所述一或更多連串的超聲波射束的射束以500射束/秒、優選100射束/秒、更優選介于15與25射束/秒之間的射束重復率發射。

3.如權利要求1或權利要求2所述的方法，其中所述超聲波系統(1000)是被配置為在所述關注區域(ROI)中產生切變波的彈性成像系統，所述處理器被編程為至少在所述第一模式和第二模式中交替操作，其中在所述第二模式中，所述處理器(400)被編程為控制所述彈性成像系統(1000)在所述組織中產生切變波并且產生一連串的超聲波射束以跟蹤所述關注區域中的所述組織如何因所述切變波而移動。

4.如權利要求3所述的方法，其中僅用當所述處理器在所述第一模式中操作時獲得的所述第一超聲波衰減值來計算所述超聲波參數的值。

5.如權利要求3所述的方法，進一步包括以下步驟：

當所述處理器在所述第二模式中操作時，記錄與接收的第二模式回波信號相關聯的第二模式超聲波衰減值；

使用所述一個或多個質量標準處理所述第二超聲波衰減值以確定記錄的所述第二模式超聲波衰減值中具有預定質量水平的超聲波衰減值；以及

使用由所述第一模式超聲波衰減值和所述第二模式超聲波衰減值兩者獲得的且具有所述預定質量水平的所述超聲波衰減值計算所述超聲波參數的值。

6.如權利要求1至5的任一項所述的方法，進一步包括使用一個或多個質量標準處理所述第一模式超聲波衰減值以確定記錄的所述第一模式超聲波衰減值中具有預定質量水平的超聲波衰減值，并且其中使用具有所述預定質量水平的第一模式超聲波衰減值計算所述超聲波參數的值。

7.如權利要求6所述的方法，其中所述一個或多個質量標準包括互相關標準，并且其中所述處理的步驟包括將接收的所述第一模式回波信號的每一個與互相關系數相關聯，并選擇具有超過預定閾值的互相關系數的接收的所述第一模式回波信號的每一個，以確定接收的所述第一模式回波信號中被充分去相關的第一模式回波信號。

8.如權利要求7所述的方法，其中基于接收的所述第一模式回波信號之一和之前接收的所述第一模式回波信號的一個或多個來計算所述互相關系數。

9.如權利要求6至8的任一項所述的方法，其中所述一個或多個質量標準包括衰減標準，所述衰減標準由預定范圍的超聲波衰減值限定，并且其中所述處理的步驟包括選擇在所述預定范圍內的所述第一模式超聲波衰減值的每一個。

10.如權利要求9所述的方法，其中所述預定范圍是100-500db/m。