[發明專利]打碼方法、打碼裝置和觸控芯片

有效

• 申請號: 202010542770.4
• 申請日: 2020-06-15
• 公開（公告）號: CN111443830B
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 袁廣凱;廖觀亮;李向華
• 申請（專利權）人: 深圳市匯頂科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260
• 代理人: 成麗杰

1.一種打碼方法，其特征在于，一個打碼周期分為兩輪打碼，對P個檢測電極打碼，所述方法包括：

在第一輪打碼中，對相鄰的M個檢測電極打正碼，對相鄰的N個檢測電極打負碼，所述打正碼的M個檢測電極和打負碼的N個檢測電極實現抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；

在第二輪打碼中，對相鄰的K個檢測電極打正碼，對相鄰的L個檢測電極打負碼，所述打正碼的K個檢測電極和打負碼的L個檢測電極實現抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；

其中，所述Q為抵消后主動筆不出現水波紋的檢測電極數目，所述P不大于觸控屏檢測電極的數目，所述正碼為主動筆協議里規定的碼表序列，所述負碼與所述正碼相位相反180度。

2.根據權利要求1所述的打碼方法，其特征在于，所述檢測電極為橫向檢測電極或縱向檢測電極，所述P等于所述橫向檢測電極或所述縱向檢測電極的數目。

3.根據權利要求1所述的打碼方法，其特征在于，打兩次正碼的檢測電極數目大于或等于1。

4.根據權利要求1所述的打碼方法，其特征在于，

在所述第一輪打碼中，對I根所述檢測電極打空碼；

在所述第二輪打碼中，對O根所述檢測電極打空碼；

其中，所述I根檢測電極和所述O根檢測電極分別位于所述打正碼的檢測電極和所述打負碼的檢測電極之間。

5.根據權利要求4所述的打碼方法，其特征在于，I=1，O=1。

6.根據權利要求1所述的打碼方法，其特征在于，Q=2或者Q=1。

7.根據權利要求1所述的打碼方法，其特征在于，M-N= K-L。

8.一種打碼方法，其特征在于，一個打碼周期分為三輪打碼，對P個檢測電極打碼，所述方法包括：

在第一輪打碼中，對相鄰的M個檢測電極打正碼，對相鄰的N個檢測電極打負碼，對B個檢測電極打空碼，所述打正碼的M個檢測電極和打負碼的N個檢測電極實現抵消，其中，M+N+B=P，│M-N│≤Q；

在第二輪打碼中，對相鄰的K個檢測電極打正碼，對相鄰的L個檢測電極打負碼，對J個檢測電極打空碼，所述打正碼的K個檢測電極和打負碼的L個檢測電極實現抵消，其中，K+L+J=P，│K-L│≤Q；

在第三輪打碼中，對相鄰的G個檢測電極打正碼，對相鄰的H個檢測電極打負碼，對F個檢測電極打空碼，所述打正碼的G個檢測電極和打負碼的H個檢測電極實現抵消，其中， G+H+F=P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；

其中，Q為抵消后主動筆不出現水波紋的檢測電極數目，所述P不大于觸控屏檢測電極的數目，所述正碼為主動筆協議里規定的碼表序列，所述負碼與所述正碼相位相反180度。

9.根據權利要求8所述的打碼方法，其特征在于，所述檢測電極為橫向檢測電極或縱向檢測電極，所述P等于所述橫向檢測電極或所述縱向檢測電極的數目。

10.根據權利要求8所述的打碼方法，其特征在于，打兩次正碼的檢測電極數目大于或等于2。

11.根據權利要求8所述的打碼方法，其特征在于，

在所述第一輪打碼中，I根打空碼的檢測電極位于所述打正碼的檢測電極和所述打負碼的檢測電極之間；

在所述第二輪打碼中，O根打空碼的檢測電極位于所述打正碼的檢測電極和所述打負碼的檢測電極之間；

在所述第三輪打碼中，P根打空碼的檢測電極位于所述打正碼的檢測電極和所述打負碼的檢測電極之間；

其中，IB，OJ，PF。

12.根據權利要求11所述的打碼方法，其特征在于，I=1，O=1，P=1。

13.根據權利要求8所述的打碼方法，其特征在于，Q=2或者Q=1。