[發明專利]一種支持多種SSD測試的裝置、系統和方法在審
| 申請號: | 202010540577.7 | 申請日: | 2020-06-15 |
| 公開(公告)號: | CN111858197A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 詹畢旺 | 申請(專利權)人: | 詹畢旺 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G06F13/38;G06F13/42 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 楊宏泰 |
| 地址: | 201499 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 支持 多種 ssd 測試 裝置 系統 方法 | ||
1.一種支持多種SSD測試的測試裝置,其特征在于,包括相互可拆卸安裝的控制板和測試板,所述的測試板用于安裝待測試的SSD產品,所述的控制板通過以太網與外部主機通信連接,包括相互連接的軟件運行模塊、控制模塊和接口模塊,所述的軟件運行模塊用于為測試軟件提供運行環境,所述的控制模塊用于識別SSD產品類型并控制接口模塊將接口配置成相應類型;
測試時,首先將SSD產品安裝于測試板上,并將測試板插入控制板中,所述的控制模塊識別測試板中的SSD產品類型,并控制接口模塊將接口配置成相應類型,然后所述的軟件運行模塊啟動,測試軟件在軟件運行模塊提供的運行環境中,對SSD產品進行讀寫測試。
2.根據權利要求1所述的一種支持多種SSD測試的測試裝置,其特征在于,所述的軟件運行模塊包括工控機,所述的控制模塊包括MCU芯片,所述的接口模塊包括PCIe Switch芯片,所述的工控機用于為測試軟件提供運行環境,所述的MCU芯片用于讀取測試板上SSD產品的類型,并將PCIe Switch芯片接口配置成相應類型,所述的PCIe Switch芯片用于實現PCIe Switch功能和SSD Hotplug功能;
所述的將PCIe Switch芯片接口配置成相應類型具體包括:將PCIe Switch芯片接口配置為PCIex2、PCIex4或PCIex8接口。
3.根據權利要求2所述的一種支持多種SSD測試的測試裝置,其特征在于,所述的控制板上設置FPGA芯片,所述的FPGA芯片用于實現為測試軟件提供運行環境、讀取測試板上SSD產品的類型和/或將FPGA芯片接口配置為相應類型,所述的FPGA芯片上集成多種IP核,所述的IP核包括CPU IP,PCIe Switch IP和以太網IP;
所述的將FPGA芯片接口配置為相應類型具體包括:將FPGA芯片接口配置為PCIex8、PCIex4、PCIex2或SATA接口。
4.根據權利要求2所述的一種支持多種SSD測試的測試裝置,其特征在于,所述的控制板包括母板、MCU板、電源板和工控機,所述的PCIe Switch芯片設置于母板上,所述的MCU芯片設置于MCU板上,所述的MCU板、電源板和工控機分別插設于母板上,所述的電源板包括第一電源板和第二電源板,用于提供電源。
5.根據權利要求3所述的一種支持多種SSD測試的測試裝置,其特征在于,所述的測試板上僅設置SSD產品插槽,所述的測試板和控制板通過板間連接器連接,直接插設安裝,所述的控制模塊通過讀取TCB_HWID[3:0]硬件管腳的值,判斷是否有測試板插入并判斷SSD產品種類,所述的TCB_HWID[3:0]信號中,每個BIT包括低電平狀態、高電平狀態和高阻態,其對應的值分別為0、1和High Z。
6.一種支持多種SSD測試的系統,其特征在,包括交換機、主機、服務器以及一個或多個測試單元,所述的一個或多個測試單元分別通過交換機以以太網的方式與主機連接,所述的主機通過交換機與服務器連接,所述的測試單元為如權利要求1-5任一項所述的測試裝置。
7.一種如權利要求1所述的支持多種SSD測試裝置的測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:將載有待測SSD產品的測試板插入控制板;
S2:控制模塊識別測試板中的SSD產品類型,并控制接口模塊將接口配置為對應類型;
S3:軟件運行模塊啟動,測試軟件在軟件運行模塊提供的運行環境中對SSD產品進行讀寫測試。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于詹畢旺,未經詹畢旺許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010540577.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





